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| 一种基于样膏的间接测量方法研究 | |
| 引用本文： | 夏俊蕾,李林峰,陈兴盛.一种基于样膏的间接测量方法研究[J].航空维修与工程,2017(10). |
| 作者姓名： | 夏俊蕾 李林峰 陈兴盛 |
| 作者单位： | 成都航利(集团)实业有限公司 |
| 摘 要： | 受被测件形状和结构的制约,使测量设备的测头不易触及被测量部件,或者光学仪器无法有效成像。可将被测量用样膏转化为能够测量的同等量,使用精密仪器测量该同等量,从而实现复杂位置尺寸的测量。 |
| 关 键 词： | 样膏 间接测量 万能工具显微镜 |
Study of Indirect Measurement Method Based on the Compound Model |
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