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一种XILINX7系列FPGA的抗单粒子翻转加固技术
引用本文:王冠雄,王佳,孙逸帆,滕树鹏,鲍迪.一种XILINX7系列FPGA的抗单粒子翻转加固技术[J].航天标准化,2020(2):40-44.
作者姓名:王冠雄  王佳  孙逸帆  滕树鹏  鲍迪
作者单位:上海航天电子技术研究所/八院智能计算技术重点实验室,上海,201109;上海航天技术研究院,上海,201109
摘    要:为解决XILINX公司7系列FPGA受SEU (单粒子翻转)的影响,采用一种基于软件错误缓解IP核(SEM IP)的新型回读刷新技术,使用SEM IP的故障注入方法并进行故障注入实验及单粒子实验。实验证明,该技术可在FPGA配置位流数据结构未知的情况下,以帧为单位对XILINX 7系列FPGA的配置位流进行比对及纠错,从而实现抗SEU加固。

关 键 词:SEU(单粒子翻转)  SRAM型FPGA  抗辐加固  回读刷新

A kind of XILINX 7 series FPGA anti-single particle overturning and strengthening technology
Abstract:
Keywords:
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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