| 探测微小空间碎片的MOS电容传感器设计研究 |
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| 引用本文： | 何正文,张明磊,向宏文,吴中祥,王金延.探测微小空间碎片的MOS电容传感器设计研究[J].航天器工程,2013,22(1):87-92. |
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| 作者姓名： | 何正文 张明磊 向宏文 吴中祥 王金延 |
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| 作者单位： | 1. 北京空间飞行器总体设计部,北京,100094
2. 北京大学微电子研究所,北京,100871 |
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| 摘 要： | 获得在轨微小碎片环境数据,是建立、检验和完善微小碎片环境模型不可缺少的手段。国内空间碎片研究工作的深入开展,须要研制适合搭载到航天器上的微小碎片探测器,以完成轨道空间的微小碎片的质量、尺寸、速度及飞行方向等参数的测量。微小碎片撞击到金属-氧化物-半导体(MOS)电容传感器,会导致传感器放电和充电,通过检测充电过程的电脉冲信号,记录微小空间碎片撞击事件,从而获得微小空间碎片通量。文章就探测微小碎片的MOS电容传感器设计及其地面高速粒子撞击模拟试验进行了研究,并验证其探测微小空间碎片的可行性。
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| 关 键 词： | 微小空间碎片 MOS电容 撞击 |
Study of On-board Micro Space Debris MOS Capacitor-type Detector |
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| HE Zhengwen
,
ZHANG Minglei
,
XIANG Hongwen
,
WU Zhongxiang
,
WANG Jinyan.Study of On-board Micro Space Debris MOS Capacitor-type Detector[J].Spacecraft Engineering,2013,22(1):87-92. |
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| Authors: | HE Zhengwen ZHANG Minglei XIANG Hongwen WU Zhongxiang WANG Jinyan |
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| Institution: | 1 Beijing Institute of Spacecraft System Engineering,Beijing 100094,China)(2 Institute of Microelectronics,Peking University,Beijing 100871,China) |
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