片上系统(SoC)空间应用前景及可靠性若干问题的思考 |
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引用本文: | 张志国,刘宇,朱辉,刘鸿瑾,李澍.片上系统(SoC)空间应用前景及可靠性若干问题的思考[J].质量与可靠性,2011(3):29-31. |
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作者姓名: | 张志国 刘宇 朱辉 刘鸿瑾 李澍 |
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作者单位: | 中国航天科技集团公司宇航部;中国航天标准化与产品保证研究院;北京控制工程研究所;北京微电子技术研究所; |
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摘 要: | 调研了国内外SoC空间应用现状,分析了国内外SoC空间应用以及可靠性方面的差距,总结了国产SoC空间应用存在的可靠性问题,提出了相关建议,供产品设计单位及可靠性专业单位参考。
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关 键 词: | SoC 空间应用 可靠性 |
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