首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

先进云纹测量技术及应用
引用本文:谢惠民,毕博,刘战伟,戴福隆,邢永明,卿新林,尚海霞.先进云纹测量技术及应用[J].强度与环境,2006,33(1):45-51.
作者姓名:谢惠民  毕博  刘战伟  戴福隆  邢永明  卿新林  尚海霞
作者单位:清华大学航天航空学院教育部破坏力学重点实验室,北京,100084
基金项目:广东省博士启动基金;教育部优秀青年教师资助计划;中国科学院资助项目;国家重点基础研究发展计划(973计划)
摘    要:本文着重介绍了高灵敏度云纹法的发展及其在结构和材料力学行为测量方面的应用,包括云纹干涉法、微米云纹法、纳米云纹法及其相移技术。介绍了清华大学工程力学系光测实验室近年来利用云纹干涉法在材料科学、激光焊接、微电子封装等力学行为测量方面的应用成果。讨论了微米/纳米云纹法分别在微电子封装、微机械系统(MEMS)、纳观变形场测量中的应用。

关 键 词:云纹干涉法  微米云纹法  纳米云纹法  相移技术
文章编号:1006-3919(2006)01-0045-07
收稿时间:2004-12-13
修稿时间:2005-02-16

Advanced moire techniques and its application
XIE Hui-min,BI Bo,LIU Zhan-wei,DAI Fu-long,XING Yong-ming,QIN Xin-lin,SHANG Hai-xia.Advanced moire techniques and its application[J].Structure & Environment Engineering,2006,33(1):45-51.
Authors:XIE Hui-min  BI Bo  LIU Zhan-wei  DAI Fu-long  XING Yong-ming  QIN Xin-lin  SHANG Hai-xia
Institution:School of Aerospace, Tsinghua University, Beijing 100084, China
Abstract:In this paper,high sensitivity moire methods and their application to the deformation measurement ofthe structure and behavior analysis of the materials are introduced.Some experimental results on materialscharacterization,laser weldment,electronic packaging with moire interferometry are discussed.In addition,somerecent research results on electronic packaging,MEMS,nano-deformation using micro/nano-moire method are alsogiven.
Keywords:Key wrds: Moire interferometry  Micro-moire method  Nano-moire method  Phase shifting technique
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号