| 晶粒尺寸和片层厚度对全片层γ-TiAl基合金屈服强度的影响 |
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| 引用本文： | 苏继龙,林高飞,郑书河.晶粒尺寸和片层厚度对全片层γ-TiAl基合金屈服强度的影响[J].航空材料学报,2009,29(4):1-5. |
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| 作者姓名： | 苏继龙 林高飞 郑书河 |
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| 作者单位： | 福建农林大学,机电工程学院,福州,350002 |
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| 基金项目： | 福建省科技厅资助省属高校项目，福建省自然科学基金 |
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| 摘 要： | 基于多位错塞积理论,建立了全片层γ-TiAl基合金屈服强度尺度效应的解析预测细观力学模型,得到了全片层γ-TiAl基合金屈服强度的计算公式并详细分析了晶粒尺寸d和片层厚度λ对屈服强度的影响关系,数值预测结果趋势与已有的试验结果相吻合.主要结论是:γ-TiAl基合金屈服强度对晶粒大小d变化不敏感,而对片层厚度λ具有强烈的依赖关系,随着片层厚度的减小,屈服强度明显增大,表现出显著的尺度效应;屈服强度与片层厚度之间的制约关系在一定的片层尺度范围内符合Hall-Petch关系.值得注意的是,当片层尺寸λ细化至90nm时,γ-TiAl基合金材料的屈服强度达到一极限饱和值,这一极限饱和值约为1000MPa.
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| 关 键 词： | γ-TiAl基合金 屈服强度 位错 片层厚度 晶粒尺寸 |
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