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微处理控制的智能测量系统
引用本文:
罗振京,衡岗.微处理控制的智能测量系统[J].上海航天,1995,12(4):33-38.
作者姓名:
罗振京
衡岗
摘 要:
自动测量系统由智能仪表、标准总线接口及微处理器系统构成。其研制周期短、通用性强、稳定可靠,适用于系统工程科研领域的种类测试。讨论系统特点、结构、标准总线接口、智能仪表选择以及抗干扰和软件设计等。
关 键 词:
自动测量
微处理机
控制系统
计算机
控制器
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