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| 纳米银膏与微米银膏烧结连接对比 | |
| 作者姓名： | 朱颖 唐善平 闫剑锋 邹贵生 |
| 作者单位： | 北京航空航天大学机械工程及自动化学院,北京,100191;清华大学机械工程系,北京,100084 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(51075232) |
| 摘 要： | 用粒径20~80nm的纳米银膏和粒径1~3μm的微米银膏进行了烧结连接镀银铜块的对比实验.借助热/力物理模拟试验机Gleeble 1500D对接头剪切强度进行了测定.用扫描电镜及能谱分析仪对接头的微观组织进行了观察和分析.结果表明:在相同的连接条件下纳米银膏烧结连接的剪切强度明显高于微米银膏烧结连接的剪切强度.接头断口和显微组织分析表明,在相同条件下,纳米银膏烧结接头组织的质密性好于微米银膏烧结接头的组织质密性.在微米银连接接头中,由于Cu块-烧结银层间的界面处存在裂纹,其剪切强度较低. |
| 关 键 词： | 纳米银膏 电子封装 无铅 烧结 |
| 收稿时间： | 2012-05-14 |
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