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| 现代表面分析——俄歇电子谱(AES)和X-射线光电子谱(XPS)在冶金学中的应用 | |
| 引用本文： | S.P.Clough,杨敬时.现代表面分析——俄歇电子谱(AES)和X-射线光电子谱(XPS)在冶金学中的应用[J].宇航材料工艺,1983(1). |
| 作者姓名： | S.P.Clough 杨敬时 |
| 作者单位： | Perkin-Elmer公司表面科学分部试验室 |
| 摘 要： | Ⅰ 前言 关于腐蚀的一个简单而直接的定义可以是:通过与周围环境作用,材料发生变质。这种变质可以表现为失去承载能力,电性能变差,尺寸改变,触媒作用变差以及表面装饰性能变坏等。我们周围有很多腐蚀的例子,本讲中我 |
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