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| 2091—T651铝锂合金晶间腐蚀电化学机理 | |
| 引用本文： | 张琦,李荻.2091—T651铝锂合金晶间腐蚀电化学机理[J].航空维修与工程,1996(6):22-24. |
| 作者姓名： | 张琦 李荻 |
| 作者单位： | 北京航空航天大学 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金,腐蚀科学重点实验室资助 |
| 摘 要： | 本文用多电极体系模拟２０９１－Ｔ６５１铝锂合金的晶界组成，研究了该合金的晶间腐蚀机理。结果表明，在腐蚀介质中，存在于２０９１－Ｔ６５１铝锂合金晶界区域的Ｔ１、Ｓ、Ｒ、Ａｌ（α）及２０９１合金沿晶界组成大量的腐蚀微电池，其中Ｔ１和２０９１合金分别是主要阳极和阴极，从而导致合金的晶界腐蚀。 |
| 关 键 词： | 2091－T651铝锂合金，晶间腐蚀，多电极体系 |
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