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| 电子设备耐久性试验的发展 | |
| 引用本文： | 祝耀昌,徐明,常志刚.电子设备耐久性试验的发展[J].航空标准化与质量,2000(1):30-33. |
| 作者姓名： | 祝耀昌 徐明 常志刚 |
| 作者单位： | 航空综合环境重点实验室,北京,100028 |
| 摘 要： | 结合介绍美国专家对电子设备进行耐久性试验的新观点,论述了有关电子设备耐久性试验的基本概念、用途、对研制计划和费用的影响以及确定试验的基本步骤等问题;最后谈了几点看法. |
| 关 键 词： | 电子设备 耐久性 可靠性 试验 |
Development of Durability Test to Electronic Equipment |
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