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国产二次集成电路的主要失效模式及分析
引用本文:田耀亭.国产二次集成电路的主要失效模式及分析[J].航天制造技术,1996(2):33-35.
作者姓名:田耀亭
作者单位:航天工业总公司半导体器件失效分析中心
摘    要:在总结了国产二次集成电路的主要失效模式的基础上,分析了其产生的原因,并针对反映的生产和使用中的问题提出了切实可行的建议。

关 键 词:集成电路,~  失效分析,工艺
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