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| 辐射效应对SRAM型FPGA可靠性的影响分析 | |
| 引用本文： | 朱辉,胡冰,吕倩,刘鸿瑾.辐射效应对SRAM型FPGA可靠性的影响分析[J].质量与可靠性,2012(1):4-6. |
| 作者姓名： | 朱辉 胡冰 吕倩 刘鸿瑾 |
| 作者单位： | 中国航天标准化与产品保证研究院;北京控制工程研究所 |
| 摘 要： | 分析了空间辐射环境对SRAM型FPGA可靠性的影响,总结归纳了空间应用SRAM型FPGA的故障模式,供FPGA产品设计人员参考。 |
| 关 键 词： | FPGA 空间辐射 故障模式 可靠性 |
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