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| X 射线衍射全谱拟合定量分析方法研究 | |
| 作者姓名： | 王晓叶 |
| 作者单位： | 航天材料及工艺研究所,先进功能复合材料技术重点实验室,北京100076 |
| 摘 要： | 利用X射线衍射仪对不同配比的Si和TiO2样品进行分析,通过三种定量分析方法(峰高法、积分强度法、全谱结构拟合法)进行计算,并进行误差分析。结果表明:三种定量分析方法中,全谱结构拟合法最优,相对误差为±2%(n=3),误差最小。X射线衍射全谱拟合法是一种精确,快速的定量方法。 |
| 关 键 词： | X射线衍射 全谱拟合法 物相定量 |
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