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带微处理器电路板的故障测试系统
引用本文:毕增军,颜荣江,李桂祥,胡宝珍.带微处理器电路板的故障测试系统[J].航空计测技术,2000,20(6):25-26,30.
作者姓名:毕增军  颜荣江  李桂祥  胡宝珍
作者单位:空军雷达学院新装备维修教研室,武汉市赵家条69号291信箱,430010
摘    要:本文介绍了一种采用通用总线仿真方法对带微处理器电路板进行故障测试的系统,并对板上部分电路提出了诊断思路和实现方法。

关 键 词:通用总线仿真  带微处理器电路板  故障测试

Fault Testing System with Microprocessor-based Circuit Board
Bi Zengjun,Yan Rongjiang,Li Guixiang,Hu Baozhen.Fault Testing System with Microprocessor-based Circuit Board[J].Aviation Metrology & Measurement Technology,2000,20(6):25-26,30.
Authors:Bi Zengjun  Yan Rongjiang  Li Guixiang  Hu Baozhen
Abstract:
Keywords:
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