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1.
采用SRAM工艺的FPGA因其性能优异,在空间领域的应用受到重视;但是在空间环境中,SRAM型FPGA易受单粒子翻转的影响而导致逻辑故障或功能中断。文章提出对该类芯片的配置逻辑部分采用回读比较后刷新、对其BRAM部分采用通用自纠错宏的抗单粒子翻转(SEU)设计方案,在牺牲一定的器件性能的情况下,能达到较好的抗辐射效果。  相似文献   
2.
Virtex-4系列FPGA空间应用中易发生单粒子翻转事件,对设备正常功能的完成带来不良影响。文章给出了单粒子翻转的原理。为解决FPGA单粒子翻转问题,结合工程实践对FPGA抗单粒子3种方法进行了分析和比对,提出了“配置存储区回读CRC结果比对”为最优方法,并给出了示例。同时文章也对FPGA回读及擦洗配置命令序列等关键技术进行了研究。  相似文献   
3.
为解决XILINX公司7系列FPGA受SEU (单粒子翻转)的影响,采用一种基于软件错误缓解IP核(SEM IP)的新型回读刷新技术,使用SEM IP的故障注入方法并进行故障注入实验及单粒子实验。实验证明,该技术可在FPGA配置位流数据结构未知的情况下,以帧为单位对XILINX 7系列FPGA的配置位流进行比对及纠错,从而实现抗SEU加固。  相似文献   
4.
文章讲述了基于usb总线的半硬回收装置数据回读系统的软硬件接口设计技术、数据分析、动态存储以及高速回调技术.以labview8.5为开发平台,有效实现了16通道数据以1 mb/s的速度由硬件向软件高速回读的功能,解决了试验现场数据的高速回放、分析与处理问题.经多次调试与考核试验的应用表明:该系统运行稳定可靠,数据回读迅速,正确,是科研人员在试验现场迅速获取测量信息的有效平台.  相似文献   
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