电子元件筛选中隔离放大器的增益非线性的测试

本文以290隔离放大器为例，介绍了增益非线性的概念，测试状态，推导出了准确实用的数据计算公式，总结出测试结果的判断方法。     

替代CFC—113清洗工艺的发展动向

主要介绍国内外替代ＣＦＣ－１１３（氟里昂）清洗工艺的原因，美日对此工艺研究进展情况，国内替代ＣＦＣ－１１３清洗工艺研究也在进行之中，替代ＣＦＣ－１１３清洗工艺势在必行。     

电子元器件电镀工艺研究

Fc-3集成电路在使用过程中经常发生“断腿”现象,经分析,初步认为断腿原因是应力腐蚀,且与电镀层的质量有很大关系。本文中所例举的试样均为电子元器件中较有代表性的三极管、TO型、扁平、双列等品种的管壳。性能测试证明:按本工艺所得的样品均能满足产品要求,尤其在抗蚀性能方面比原工艺有较明显的提高,为减少断腿率提供了有利的条件。     

GE推出适用于电子制造业的高性能X射线检测系统——phoenix xlaminer

2011年5月12日,GE检测控制技术宣布最新推出的新型phoenix x|aminer是一个微焦点X射线检测系统,有5个轴,主要用于电子元件分装的质量控制,并适用于焊点的可靠精确检测。     

利用忆阻器制造人工大脑

长久以来，科学家一直梦想着造出像大脑一样的电脑。大脑比电脑更加节能，而且还会自主学习。不需要任何编程。来自比勒菲尔德大学物理学系的高级讲师安迪·托马斯博士正在做这方面的努力，他的研究材料是忆阻器，一种能够模仿神经功能的微电子元件。多年来，忆阻器一直被视为神经突触的电子版，而突触是神经元之间联系的桥梁，神经元活动越多，这种突触联系也就越多。忆阻器可以接收来自电子回路的脉冲，并且在关掉电源后，仍能“记忆”先前通过的电荷量。     

表面安装技术的发展现状及其应用

叙述了电子产品表面安装技术的概念、特点和基本类型,以及国内外在军用和民用产品上的应用状况。     

电子元器件性能与液相外延工艺

分析了液相外延（ＬＰＥ）在微电子工艺中的状况及其原理，概述了ＬＰＥ在器件制造中的应用，指出了ＬＰＥ的电子元器件的优良特性，给出了ＬＰＥ在光电子领域研究中的最新成果。