有源光纤环脉冲复制器系统误差分析

借助半导体光放大器(SOA,Semiconductor Optical Amplifier)动态噪声模型结合蒙特卡罗方法对有源光纤环脉冲复制器的复制误差特性进行了研究.对复制误差与环内衰减器衰减、SOA偏置电流、环内注入直流光波长与被复制脉冲幅度等各项参数之间的关系进行了研究.仿真结果表明,较小的环内衰减与较大的偏置电流有助于抑制复制误差,而环内注入直流光波长则应选择较长的波长.通过这些仿真结果探讨了减小复制误差的手段.根据分析结果建立了实验系统,验证了有源光纤环脉冲复制器的低失真复制特性.实验证明有源光纤环脉冲复制器可以对脉冲进行有效的低失真复制.      

激光选区熔化TC4合金在HF–H2O2体系的化学抛光研究

采用HF–H₂O₂溶液对激光选区熔化TC4合金进行化学抛光。以抛光前、后试样表面的形貌、粗糙度、光泽度、失重和减薄率为指标,探究抛光时间、H₂O₂浓度对样品表面抛光效果的影响。结果表明,随抛光时间增加,粗糙度逐渐降低,光泽度、失重率和减薄率逐渐提高;随H₂O₂浓度增大,粗糙度先降低后增大,光泽度、失重率和减薄率则先提高后降低。其中,在HF/H₂O₂体积比1:5、时间8 min时,钛合金表面的抛光效果较好,试样表面粘附的粉末完全去除,表面粗糙度Ra达到(3.5±0.3)μm、表面光泽度达到(80.3±0.7)GU,相对于打印态表面(Ra(13.3±0.8)μm、光泽度(0.9±0.3)GU)显著提升。同时也探讨了钛合金在HF–H₂O₂体系的化学抛光机理。