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1.
当前系统和设备的机内测试、实时监控或诊断子系统给出的诊断指示中虚警所占比例较大,影响使用。依据贝叶斯公式导出诊断指示正确性的概率表达式,对影响正确指示的各种因素进行了分析。  相似文献   
2.
测试性验证方法研究   总被引:10,自引:2,他引:8  
田仲 《航空学报》1995,16(Z1):65-70
对系统和设备测试性验证的主要内容、参数和验证方法进行了研究,依据数理统计理论提出了用简单实用的查表方法来估计故障检测与隔离能力、设计试验方案及判定合格与否的准则。  相似文献   
3.
故障诊断策略的优化方法   总被引:28,自引:0,他引:28  
石君友  田仲 《航空学报》2003,24(3):212-215
 以相关性模型为基础,综合可靠性和测试费用等因素提出了一种系统级优选测试点方法和故障诊断策略。首先根据系统的相关性矩阵,将测试性度量、故障概率和测试费用统一考虑,推导出测试点的故障诊断信息量计算公式;然后根据信息量的大小依次选择测试点,并确定出优化的故障诊断策略。所得到的故障诊断策略确保了在较低的测试费用下,使用尽可能少的测试步骤快速完成系统的故障检测和隔离。  相似文献   
4.
测试性分配和预计   总被引:2,自引:1,他引:2  
测试性设计是电子系统和设备设计的重要内容,测试性指标的分配和预计又是测试性设计工作的重要组成部分,但尚未见到实用的分配和预计方法。对测试性定量参数的定义进行了讨论,根据定义和工程需要导出测试性指标的分配和预计的数学模型,给出实用的分配和预计方法并用例作了说明。  相似文献   
5.
测试性研制阶段数据评估验证方法   总被引:7,自引:1,他引:6  
石君友  田仲 《航空学报》2009,30(5):901-905
分析了现有测试性验证方法应用情况,阐述了测试性研制阶段数据评估验证方法的必要性。通过与现有测试性验证方法的对比分析,提出了一种新的测试性验证方法,并说明了该验证方法的含义和特点。该验证方法可用于故障检测率、故障隔离率和虚警率的验证。建立了该验证方法的工作框架,包括验证要求、验证程序、验证技术和验证组织。重点阐述了该验证方法的两种工作方式实施流程、适用的最小样本量范围、测试性数据收集表格和测试性数据判据。其中,测试性数据收集表格可以记录故障检测、故障隔离和虚警信息。进行了案例应用,给出了数据分析结果和经验总结。案例应用表明该方法能够达到测试性验证的效果。  相似文献   
6.
测试性分配方法研究   总被引:7,自引:0,他引:7  
研究了系统测试性指标与系统组成单元指标之间的关系,分析了确定测试性指标的各主要影响因素,进而导出了测试性分配的基本要求、数学模型和工作程序.在此基础上,文章给出了4种用于不同情况下的测试性分配方法:前2种是基于系统单元的复杂度(故障率)或重要度(故障影响)的分配方法;第3种是综合考虑各影响因素的加权分配方法;第4种是系统中有老成品时的分配方法.这些分配方法都可以实际应用于工程设计.   相似文献   
7.
提出采用均匀设计与BP神经网络相结合的方法进行基于工件成形构形约束的管材无模轴压胀形工艺设计。以管材无模轴压胀形工艺有限元数值模拟为研究平台,对该方法的技术可行性进行了验证。结果表明,该方法有助于提高工艺设计的主动性和针对性,减少传统试错方式的被动性和盲目性,从而增强对工件最终成形品质的预测能力和控制能力。  相似文献   
8.
基于信息模型的测试性试验样本集充分性研究   总被引:11,自引:1,他引:10  
建立了产品的故障模式信息模型,包括产品的故障模式、结构单元、功能和测试数据以及这些数据之间的映射关系.根据该信息模型,定义了三种故障模式等价集合,即故障模式单元等价集合、故障模式功能等价集合、故障模式测试等价集合.在这些等价集合的基础上,建立了测试性试验中样本集的三种典型充分性度量和准则,即单元覆盖充分性度量和准则、功能覆盖充分性度量和准则、测试覆盖充分性度量和准则.分析了典型充分性度量和准则的适用范围,并建立了综合充分性度量和准则.使用综合充分性度量可以评价样本集的充分程度,使用综合充分性准则可以确定样本集的构成要求.建立了综合充分性度量和准则的应用方法和流程.通过实例验证了该方法的可行性.  相似文献   
9.
测试点的优选方法   总被引:4,自引:1,他引:3  
田仲 《航空学报》1995,16(Z1):61-64
以系统或设备功能框图和信号流程图为基础,构造出故障信息矩阵,通过测试点对故障检测、隔离或定位贡献大小(权数)的分析,用逐步分解矩阵的方法,选出需要的测试点,确定出最佳诊断程序,达到用最少的测试点和最少的时间检测与隔离故障的目的。  相似文献   
10.
田仲 《飞行试验》2000,(2):7-11
从系统和设备的设计观点出发,依据有关测试性、可靠性和维修性的理论,推导出了BIT有关参数与MTBF及MTTR的关系式,进行了定量分析,提出了进行系统和设备设计时应注意的问题和准则。  相似文献   
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