FORS——一种新型检测裂纹方法

FORS(光导纤维裂纹检测法)是由西德MBB公司研制发展的一种新型检测裂纹的方法,可以用来检测重要零部件的裂纹及裂纹扩展情况,这个方法操作简单,效果良好,而且可以广泛应用。方法实质是把经过特殊处理的光导纤维粘附在零部件的表面,在存在裂纹处     

超导材料及其在航天技术上的应用前景

1986年以来,世界范围内出现了“超导热”,超导技术获得飞速发展。本文简要介绍了国内外超导材料与超导薄膜研究所取得的进展,探讨了超导材料在航天技术上的应用前景。     

航天部材料测试、分析专业标准化技术委员会在京成立

1985年12月19日至21日,航天部材料测试、分析专业标准化技术委员会成立大会在北京举行。708所科技委副主任曾觉先同志代表部质量技术司致了开幕词,并宣布了委员会成员名单,颁布了聘书。委员会由703所赵稼祥同志任主任委员,708所杨洪同志任副主任委员。703所毛化民副所长致了贺词。 会议进行了技术交流。赵稼祥同志作了“航天工业材料测试分析技术现况及其展望”的报告;703所卫锦先同志介绍了制订标准的经验与体会;699厂李元霞同志从专业与型号研制角度谈     

航天材料低温性能测试技术

低温性能测试技术是航天材料测试分析的一个重要领域。本文简要地介绍了三十年来航天材料低温性能测试技术的进展与现状,并展望了今后发展的方向。     

TEXTRON碳化硅纤维

美国TEXTRON特种材料公司在1989年第3(?)届SAMPE年会上推出低成本碳芯碳化硅纤维,专门用作金属基复合材料的增强剂。与日本碳素的“NICALON”碳化硅纤维相比,“TEXTRON”碳化硅纤维的抗拉强度约提高了20%。达3450MPa,抗拉模量提高了1倍,达400GPa。“TEXTRON”碳化硅纤维的直径为140μm,以6061铝合金为基体,含48%体积比的“TEXTRON”碳化硅纤维,用热压法制成的碳化硅/铝复合材料,0°方向抗拉强度     

第三十八届国际尖端材料学会年会与展览简介

第38届国际尖端材料学会年会与展览(The 38th International SAMPESymposium ＆ Exhibition)于 1993年 5月 10～13 日在美国加里福尼亚州阿纳汉(Anaheim,CA)城召开。国防科工委组成包括军用新材料应用研究专业组组长赵稼祥研究员、副组长周瑞发研究员、成员宋家树研究员和国防科工委综合计划部预研协作局展晓     

美国科技会议分类及其特点

美国的科技会议大体上可以归纳为三类。第一类属于“学会的年会”,例如美国航空与宇航学会(简称AIAA)年会,材料与加工工程促进协会(简称SAMPE)年会和美国陶瓷协会年会等。这种会上进行极为广泛的学术交流,涉及到该领域各个专业各个专题。会议往往分多组进行,报告时间不长,一般限制在十五分钟左右。因此,报告篇幅短小,内容精简,一般只能了解一下作者的意图与研究工作的结论。参加这种会议的人数比较多,一般都在好几百人到上千人。会议往往伴随有大型展览会,会议的地点一般都在大城市,在开学术会议同时,在展览会上还洽谈生意。各家公司     

2000年美国材料与加工工程促进学会年会与展览简介

简要介绍了2000年美国材料与加工工程促进学会年会与展览概况，并对碳纤维的新动向以及复合应用与发展作了报道。     

最新表面分析仪—PHI900多功能探针

由珀金—埃尔默(Perkin-Elmer)公司生产,在1979年问世的号称世界上最有效的材料分析仪PHI595型多功能探针已经于最近为PHI600型取代。600型多功能探针是第四代仪器,对一些最关键部分进行了重要改进,使用