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一、概述精密微波测试通用支架是一种通用性大、又可以夹持非对称同轴元、器件以及几种波段波导元、器件的一种新型支架。随着微波技术的迅速发展,采用了各种新技术,相应对微波阻抗、功率、衰减、相位、低噪声等各种参数测量的精确度要求越来越高。为了满足高精确度测量要求,除了 相似文献
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引言过去对高频精密同轴接头接触机构的设计没有引起重视,因而直接影响了微波测试系统的电性能。为了提高精密同轴接头的电指标和机械可靠性,在IEEE标准和我国四机部都对精密同轴接头的配接尺寸规定了严格的公差要求。要获得这个精确尺寸,还必须严格控制另件加工公差和保证精确的装配才能达到要求。但装配结束后,过去一直没有一种简便、迅速、而又准确的量仪去检测配接尺寸。本文推荐一种自行设计的直接测量工具,它 相似文献
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本文从目前微波结构的需要和今后的方向出发,介绍用于微波同轴调配器几种类型的螺旋微调机构.并且克服了孔径小、孔距短的困难,如何把粗调、微调设计成为一体。把它安装在一个导向孔内,使粗调、微调操作在一个位置上进行,这样简化了结构,也提高了使用效率。经过实际应用,觉得效果很好。最后还介绍了美国Weinschel Engineering公司设计的甩于N型(或APC7)同轴调配器上的微调机构,并且把实际的装配图和主要零件图介绍于文内,提供大家参考。 相似文献
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