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产品研制和批产阶段可靠性问题分析 总被引：1，自引：0，他引：1
从产品研制和批产阶段暴露的与可靠性相关的故障入手,对目前产品在这两个阶段存在的一些问题进行了分析,并根据分析结果提出解决方法和改进建议. 相似文献
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针对可靠性鉴定试验中航空电子产品进行微小设计更改之后续试验方案确定这一问题,对比继续进行试验和重新开始试验两种情况下的可靠性水平评估结果,提出了一种合理安排后续可靠性试验的新思路,为经过微小设计更改后的航空电子产品可靠性鉴定试验方案的调整提供了依据. 相似文献
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提出了基于下层设备可靠性试验数据评估系统可靠性的方法.通过此方法可以得到系统在一定置信度下平均故障间隔时间的置信下限.最后通过实例说明如何利用该方法评估系统的可靠性. 相似文献
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