航天元器件关键工艺的统计过程控制方法

文章以统计过程控制（SPC）中的均值—标准差（X—R）控制图理论方法为基础,以宇航元器件关键工序中的集成电路键合拉力强度为研究对象,提出宇航元器件关键工序进行SPC的必要性,并提出以（X—R）控制图作为质量工具对宇航元器件关键工艺进行质量监控的方法,计算出该关键工艺的过程能力指数。