双极IC电浪涌损伤诊断技术

以进口双极ＳＮ５５１８９Ｊ电路和国产双极５４Ｓ００电路为典型示例，系统介绍集成电路电浪涌损伤的诊断技术和分析技术，说明了如果ＩＣ电路出现电浪涌损伤现象，应从电路设计、制造、使用三方面全面地查找原因，采用先进技术和手段准确地诊断出电浪涌产生的根源、途径，从而采取有效措施彻底消除电浪涌的损伤。     

集成电路静电损伤的失效分析

静电损伤双极肖特基ＴＴＬ接口电路，失效的隐蔽性很大，对高可靠的电子设备固有可靠性带来了潜在性的危害。通过对静电损伤失效的接口集成电路的失效分析，系统地介绍了静电损伤的机理、失效分析技术、静电分布和防静电措施。