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电路板电源总线的分析非常复杂,虽然传统腔模方法是分析电路板电源总线的一种非常有效的方法,但是该方法具有收敛速度慢,计算时间长和不能分析电源总线辐射发射的缺点.在该算法的基础上,改进二重级数和形式的电源总线辐射发射方法并提出了单一级数和形式的电源总线辐射发射表达式.在此基础上指出了单一级数腔模理论解的适用条件,并对该快速算法的收敛性进行了分析.分析表明,该方法减少了传统二重级数求和的计算工作量,提高了收敛效率并节省了计算时间,而且能够有效逼近双级数腔模辐射算法的计算结果.通过对电路板的辐射发射数值仿真验证了该算法的有效性和正确性. 相似文献
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天线系数的测试误差与NSA测试的改进 总被引：1，自引：1，他引：0
总结了归一化场地衰减(NSA,The Normalized Site Attenuation)测试中存在的误差,指出误差主要来源于天线系数.通过对天线互阻抗的分析,说明它是天线系数误差的主要来源.简单介绍了天线系数的标准计量方法,发现其中并未考虑互阻抗的影响;修正了天线系数计量中采用的方程组,证明该方程组不能求解.分析了减小测试天线间互阻抗误差的因素,重新设计了一种新的测试方法.新方法使用天线增益替代天线系数,利用天线增益测试的必要条件避免互阻抗的影响;证明了新方法与原方法的原理间的等价条件;通过实测验证了新方法的有效性. 相似文献
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双绞线的螺距误差会直接影响其抗干扰水平,螺距误差的随机性会造成双绞线串扰预测的不确定性.通过双绞线制作原理的分析,利用制作参数可以较准确得到任意双绞线螺距误差的概率密度.采取等弧度离散法和广义多端口网络的概念,快速建立非均匀螺距双绞线的频域串扰模型,得到感性耦合和螺距误差的关系.基于螺距误差的概率密度函数,可以有效分析任意双绞线串扰的统计特性.仿真结果表明双绞线制作参数转轴角速度的均值和方差是影响双绞线感性耦合大小的关键因素,在双绞线制作过程中必须予以考虑,以保证双绞线的抗干扰能力. 相似文献
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