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由IGS工作组提供的全球电离层地图（GIM）是电离层重要的应用数据.卫星高度计能够提供全球实时的电离层延迟误差校正.利用GIM数据，以Jason-3时空分辨率进行电离层总电子含量（TEC）的时间维度插值和空间维度插值，其中空间维度插值采用了Kriging插值和双线性插值两种方法.针对两种插值方法得到的总电子含量，与平滑处理的Jason-3高度计cycle80双频延迟校正值转化的总电子含量进行对比分析.结果显示:其与Kriging插值的平均偏差为0.94TECU，均方根误差为2.73TECU，相关系数为0.91；与双线性插值的平均偏差为1.43TECU，均方根误差为6.85TECU，相关系数为0.61.这说明Kriging插值方法的精度明显高于双线性插值方法. 相似文献
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