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本文着重探讨了试样表面应力对残余奥氏体测试的影响。结果表明:对同一块试样施加应力后测得的残余奥氏体量与经电解抛光、消除应力后测得的残余奥氏体量有差别,试样表面存在应力时比消除应力后的残余奥氏体量低。因此,采用X射线衍射仪测定钢中残余奥氏体时,表面状态很重要,务必经电解抛光后再进行测量,方能获得比较精确的结果。  相似文献   
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