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1.
Xilinx SRAM型FPGA抗辐射设计技术研究   总被引:6,自引:2,他引:4  
邢克飞  杨俊  王跃科  肖争鸣  周永彬 《宇航学报》2007,28(1):123-129,151
针对Xilinx SRAM型FPGA在空间应用中的可行性,分析了Xilinx SRAM型FPGA的结构,以及空间辐射效应对这种结构FPGA的影响,指出SRAM型的FPGA随着工艺水平的提高、器件规模的增大和核电压的降低,抗总剂量效应不断提高,抵抗单粒子效应,尤其是单粒子翻转和单粒子瞬态脉冲的能力降低。分析了FPGA综合后常见的Half-latch在辐射环境中的影响并结合实际工程实践给出了解决上述问题的一些有用办法和注意事项,如,冗余设计、同步设计、算术逻辑运算结果校验、白检等。最后还提出一种基于COTS器件的“由顶到底”的星载信号处理平台结构,分析了这种结构在抵抗辐射效应时的优势。有关FPGA抗辐射的可靠性设计方法已经在某卫星通信载道中成功应用,并通过了各种卫星环境试验,该技术可以为有关航天电子设备设计提供参考。  相似文献
2.
激光模拟单粒子效应试验研究   总被引:4,自引:0,他引:4       下载免费PDF全文
脉冲激光模拟单粒子效应是单粒子效应地面实验模拟中新近才发展起来的一种方法。本文主要介绍脉冲激光模拟单粒子效应的基本原理、实用性及特点,结合实验室从俄罗斯引进的激光模拟单粒子效应试验系统。选取了几种典型星用器件,在国内首次开展了激光模拟单粒子效应试验研究,研究表明脉冲激光模拟方法是一种有效、安全、经济、方便的地面模拟单粒子效应的方法,它可以很大程度上弥补了传统地面模拟单粒子效应方法的不足,是地面评估星用器件和集成电路抗辐射加固的另一重要方法。  相似文献
3.
抗单粒子效应加固是宇航器件研发和卫星电路系统设计面临的重要难题。准确、有效的单粒子效应试验评估对此问题的解决有巨大帮助。中国科学院空间科学与应用研究中心于近十年在国内自主发展了用于单粒子效应评估的脉冲激光试验相关装置、试验技术和方法,对宇航器件和卫星电路开展了初步应用。通过脉冲激光试验,能够快速甄别、定位宇航器件试样的单粒子效应薄弱点,以及快速地摸底评估出芯片的整体加固性能。对于卫星电路系统,脉冲激光试验不仅能够快速摸底评估拟用器件的抗单粒子效应性能,而且能够针对芯片空间分布和电路时序变化进行扫描和定点测试,验证加固效果。  相似文献
4.
新型航天器抗辐射加固技术的研究重点   总被引:3,自引:1,他引:2       下载免费PDF全文
未来新型航天器在研制模式、设计技术、元器件及材料等方面与以往卫星相比将有较大变化,从而对抗辐射加固技术提出新的要求.因此,抗辐射加固技术的研究重点须在以往研究基础上进行调整.文章从航天器总体角度,对新型航天器抗辐射加固技术的研究重点进行探讨.  相似文献
5.
利用脉冲激光进行单粒子效应试验具有操作方便、试验效率高,可对芯片单粒子效应响应的空间区域和时间特性进行测试等特点,可作为卫星用器件和电路单粒子效应测试的有力手段.利用自主建立的脉冲激光单粒子效应试验装置(plsee),针对某卫星用数字器件和电路进行了辐照试验,观测到了丰富的单粒子效应现象,首次测试了多次单粒子锁定对器件和电路的影响,对器件选用评价和电路系统抗单粒子效应设计具有参考价值.利用此装置,还首次在国内对有空间应用背景和前景的运算放大器、光电耦合器进行了单粒子瞬态脉冲效应的试验,表明这些器件像数字器件一样会发生严重的单粒子效应,而且更难捕捉和定位,对卫星系统的威胁不容忽视.  相似文献
6.
激光模拟单粒子效应设备及试验研究进展综述   总被引:2,自引:0,他引:2       下载免费PDF全文
单粒子效应的脉冲激光模拟方法是单粒子效应地面模拟试验中近年来才发展起来的一种方法.文章主要介绍了脉冲激光模拟单粒子效应的基本原理、特点及国内外研究进展.研究表明脉冲激光模拟是一种有效、安全、经济、方便的地面模拟单粒子效应的方法,在器件单粒子效应危害评估及电路加固验证方面具有明显的优势.  相似文献
7.
航天器单粒子效应的防护研究   总被引:2,自引:2,他引:0       下载免费PDF全文
随着航天电子器件集成度的不断提高,其发生单粒子效应的风险越来越高,已经成为影响航天器可靠性和运行寿命的重要因素.文章首先介绍了单粒子效应的发生机理,研究方法和研究成果,在此基础上对现有的各种抗单粒子效应加固技术进行了总结,按照硬件加固技术、软件加固技术和轨道优化设计的思路较为系统地论述了单粒子效应的防护手段.  相似文献
8.
空间辐射环境单粒子效应研究   总被引:2,自引:0,他引:2       下载免费PDF全文
文章介绍了空间辐射环境对航天器电子元器件产生的单粒子效应的国内外研究情况,从环境模拟方法、模拟试验设备、单粒子效应及防护以及飞行试验等方面进行了分析比较.文章对国内研究发展提出了一些建设性的建议.  相似文献
9.
一种串并转换器件单粒子效应试验研究   总被引:1,自引:1,他引:0       下载免费PDF全文
针对型号用新型器件抗辐射能力评估的需要,研制了串并转换器件单粒子效应检测系统,并对卫星型号中准备使用的一款26位串并转换器件进行了单粒子效应评估试验,得到了器件抗单粒子锁定的阈值,并发现该器件在单粒子辐照下会出现连续位输出错误。结合器件版图、结构分析了单粒子效应造成连续位错误的原因,为器件厂家后续设计改进和卫星型号进行系统级抗辐射加固设计提供了依据。  相似文献
10.
SRAM单粒子效应检测方法研究   总被引:1,自引:1,他引:0       下载免费PDF全文
采用中国科学院近代物理研究所的回旋加速器hirfl产生不同let值的重离子,以模拟空间辐射环境,检测了两种国产sram器件抗单粒子翻转、和单粒子锁定的能力.试验中采用了两套单粒子效应检测系统,结合试验检测过程和最终结果,讨论了两套检测系统各自的优缺点,总结了试验中需要注意的其他问题.本研究为今后构建其他器件的单粒子效应检测系统提供了参考.  相似文献
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