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航天分散热源控温用环路热管设计及飞行应用 总被引:1,自引:0,他引:1
为满足国家高分专项遥感卫星焦面电路的力热稳定性要求,提出并设计了一种用于分散式热源精密控温的改进型环路热管(LHP),既实现了狭小空间内对多片焦面CCD器件的统一恒温控制,又兼顾了焦面结构与卫星舱板间的力学解耦功能。地面测试结果表明:该LHP的热负载携带能力及对分散式热源的精确控温效果良好。2015年9月份,将该控温用LHP成功应用于GF-9卫星遥感器CCD器件的飞行控温,截止目前已在轨运行超60个月,受控的4片CCD器件温度稳定性达±0.7℃/年,证明了该控温用LHP设计方法的正确性及工程可实现性,同时实现了我国自研控温用LHP在航天微重力环境下的首次长寿命应用。本文LHP的设计方法和在轨飞行数据,对后续LHP在航天热控领域的应用具有一定的参考价值。 相似文献
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非恒定温度场合弹上性能退化型部件贮存可靠性评估 总被引:3,自引:0,他引:3
导弹在贮存期内要反复经历运输、存放、检测、维修和战备值班等过程,其环境温度并不恒定,而是在一定范围内发生动态变化。对性能参数有变化趋势的弹上部件而言,有必要考虑环境温度变化对其可靠性的影响,因此提出一种非恒定温度剖面下的贮存可靠性评估方法。首先,分析产品实际性能退化的特点,选择带有非线性漂移项的Wiener过程描述产品的退化性能,推导出试验环境下产品的寿命分布。然后,采用Gamma分布拟合贮存期间的弹内温度分布。进而利用比例风险模型描述温度变化对产品可靠性的影响,推导弹上性能退化型部件在非恒定温度剖面下的无条件寿命分布,并给出模型参数的极大似然估计。算例表明本方法实际可行。 相似文献
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利用变环境数据的Weibull分布可靠性综合评估 总被引:1,自引:0,他引:1
为了提高可靠性评估精度,研究了环境因素对产品可靠性的影响,提出了一种适用于Weibull分布的变环境数据可靠性综合评估方法.首先通过利用径向基函数法来度量不同环境因素及其交互作用对可靠性的影响,建立了关于环境因素的位置参数模型.并针对刻度参数依赖于环境因素的情形,利用线性模型来建立刻度参数模型.然后利用广义线性模型,给出了位置和刻度参数模型系数的极大似然估计,并给出了可靠度近似置信下限.实例表明该方法能较好地度量环境因素对可靠性的影响,而且合理可行便于工程应用. 相似文献
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基于AMSAA模型的研制试验数据 可靠性综合评估 总被引:7,自引:1,他引:6
采用了工程界普遍使用的AMSAA模型,充分利用了同类或相似产品研制试验故障数据,对于研制试验中含较多试验项目的情形将其归结为几种典型的环境应力类型,提出了一种通过最优化过程确定时间环境折合系数的方法,最后给出了研制阶段MTBF(Mean Time Between Failures)置信区间的求解方法.研究结果表明,该方法合理可行,可以满足工程上的精度要求. 相似文献
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基于内模原理,针对椭圆轨道编队维持控制过程中存在的周期扰动问题,结合动力学方程的时变周期系数特性,设计具有干扰抑制功能的线性周期时变最优二次调节器。干扰内模的加入,使得系统响应在稳态时具有良好的控制精度,同时基于最优性原理的设计使得系统的瞬态响应过程满足某种最优性能指标要求。仿真结果表明,在椭圆轨道的编队维持控制器中引入部分干扰内模可大幅度提高维持精度。 相似文献
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由于卫星在轨运行要受到各种摄动(特别是J2项摄动)的影响,经典的TH方程并不适合描述椭圆轨道卫星编队的长期运行。基于轨道平根数,推导了考虑J2项一阶摄动的相对轨道动力学方程,给出其近似解,研究了相对运动的有界性条件,最后通过仿真试验验证了该方程。 相似文献
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针对传统最小二乘估计仅仅考虑回归模型曲线本身的试验样本,不能同时对曲线动态变化规律进行描述、未能充分利用模型与数据信息的问题,依据在一次观测中待定参数的取值应使得随机样本与模型各阶导函数在概率尺度下具有最小距离的原理,通过构造模型曲线导数意义下的损失函数,提出了一种能够综合利用模型与试验数据导数信息的导数最小乘方估计方法,推广了传统最小二乘估计的模型条件与使用范围。并结合复杂可修产品可靠性增长的Duane模型给出了参数的一般导数最小二乘估计与最佳导数最小二乘估计式,证明了模型参数的导数最小二乘估计较传统最小二乘估计具有更好的统计性质。为实际中确定模型曲线,进行工程预测提供了一条新的技术途径。 相似文献
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可靠性增长是可靠性工程的重要方面,但针对工程中普遍存在的各阶段小样本试验数据,基本上还没有有效的分析方法.为此,首先研究推广了参数受限制的Fiducial方法,而对于非位置-刻度簇分布,使用规范化的似然方法进行推广,并指出采用Fiducial方法得到的评估结果具有很好的频率性质;然后在顺序单调约束的可靠性增长模型下,使用参数受限制的Fiducial方法研究了电子产品的可靠性评估方法,具体给出了故障可观测情形和区间数据情形下电子产品失效率的置信上限. 相似文献
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