航天电连接器质量检验专题讲座：第3讲 航天电连接器的外观质量检验

1．外观质量检验的目的意义 航天电连接器的外观质量非常直观地展示其设计可靠性和工艺制作水平．留给用户的视觉和触觉印象。往往成了是否选用的重要依据之一。航天电连接器的工作寿命是决定卫星、飞船等航天飞行器工作寿命的因素之一。而要保证连接器在长期贮存后，在冲击、振动、温度交变、真空排气、辐照、氧化、     

压电式压力传感器的动态校准

通常对压电式压力传感器进行静态校准是有困难的。主要原因是放大器输入级的时间常数不够大,产生的电荷易被漏掉,因而输出电压不能保持在常值上。本文叙述了一种压力校准装置,用它可对压电式压力传感器的灵敏度进行绝对法和比较法校准。该装置能在5～10ms的时间内爆发出1高达1MPa的阶跃脉冲压力。压力传感器及其测量系统对此阶跃脉冲压力的响应,用微处理机处理,可自动给出压力灵敏度、响应曲线及其有关参数。校准精度约为1％。     

护航圣火迎奥运

2008年5月7日早晨,广州白云国际会议中心,数万人在此聚集,他们翘首期盼,等待着一个庄严而又神圣的时刻:8时15分,北京奥运火炬将在这里点燃,并开始在广州进行40.82千米,长达10个小时的火炬传递。8时,三架蓝白相间的警用直升机以50米高度、30米间隔成一字编队从会场前方飞过,拉开了此次活动的帷幕。三架直升机绕场一周后,消失在人们的视线中。8时15分,火炬点燃,火炬手向前跑动后,三架直升机又呈品字形,以30×50米的队形从北向南飞来,对火炬传递进行空中护卫。空中旋翼嗡鸣,地面万人欢呼,白云山西麓霎时成了欢乐的海洋。望着地面上向前跳动着的圣火、欢呼的人群,驾驶     

离子电推进技术的发展现状与未来

离子电推进是最具代表性和技术成熟度的电推进技术类型之一。本文从放电室技术、离子光学系统技术、放电阴极和中和器阴极技术的优势、缺憾等方面,总结了离子电推进的技术发展现状。针对未来航天任务对离子电推进更大功率、更高比冲、更简系统等新需求,分析了传统离子电推进所面临的主要技术挑战,梳理出了环型离子电推进、双级加速离子电推进、自中和离子电推进、螺旋波放电离子电推进等创新离子电推进技术发展的未来方向。     

某型机风挡加温系统控制规律的数值模拟

风挡电加温系统的控制规律是系统设计的重要部分。采用有限容积法模拟某型机风挡加温系统的控制规律,计算飞行包线下的温度和电加热功率的瞬时变化情况,分析在不同的天气条件下温度和加热功率瞬态变化的差异,得到实际情况下系统的工作规律。结果表明:由于玻璃具有热惯性,系统加温达到稳定状态后,基本上在较低的功率水平工作;外表面和导热膜的温度受外界环境影响较大,内表面的温度在加热过程中总体呈现增加趋势;设计时控制规律还可不断优化,以使系统具有更好的加热效率。该研究结果可为风挡加温系统的设计提供参考。     

差动式电涡流传感器在摆式加速度计中的应用

差动电涡流传感器因结构简单、灵敏度高、线性范围大而得到广泛的应用。本文主要论述了差动式电涡流传感器在摆式加速度计中的应用,实验结果表明该设计结构合理、工艺可行,能满足使用要求。     

推广使用REM37BY电嘴

在我院使用的活塞发动机飞机中,点火系统故障率居高不下,其中又以电嘴积铅带来的发动机抖动故障居多。本文通过对比分析,以及实际监控使用的具体情况,证明了REM37BY电嘴能使这一故障大大减少,并且能节约成本,缩短工时,具有较大的推广价值。     

硬支承动平衡机通用微机化电测系统的研究

论述了一种以IBM-PC为主机的微机化通用硬支承动平衡机电测系统的实现方法。系统采用了先进的硬软件结合技术，寻求达到高精度、多功能、易操作和低成本的总体目标。为了满足不同用户的需求，系统具有多种支承方式、多种显示方式、多种补偿方式、多次启动平均、多面校正计算、多和打印方式以及自动标定和留言服务等功能．     

商用电推进的重要进展

１９９８年是电推进系统有大幅度前进的一年。４种类型计７８台电推力器发射入轨，包括６６台肼电阻加热电离式发动机，９台肼电弧加热等离子体射流推力器，２台氙离子推力器和１台氙霍尔推力器系统。摩托罗拉完成１５次铱星发射，６７颗铱星用Ｐｒｉｍｅｘ航天公司的肼电...     

多路并联半导体桥点火器同步发火故障机理研究

半导体桥点火器在工程应用中通常为多个产品并联在同一供电回路中使用，以实现火工装置同步点火。在实际应用中有时会出现某个火工装置点火失败的现象。当前，研究主要集中在半导体桥点火器本身电阻变化对单路点火过程电流、电压的影响，对多路并联半导体桥电流响应特性的研究较少。半导体桥点火器在多路并联同步使用时，作用机理及故障原理不清限制了其在该场合中的应用。文章设计搭建了多路并联半导体桥点火器点火电路，通过试验发现点火器多路并联使用时，支路电流存在突然下降或上升速度缓慢的现象，均可能造成点火器半导体桥区烧蚀不完全或瞎火。结合半导体桥点火器的点火机理分析得出电路电流突然下降会导致相变过程中止、电流上升较慢会导致相变能量不足，均会造成半导体桥电爆能量无法正常释放，进而无法正常激发内部起爆药，这是半导体桥点火器用在多路并联电路情况时出现点火失败的重要原因。