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101.
基于磁悬浮助推技术概念研究方案建立了一套悬浮加速缩比试验系统.从整体缩比模型振动试验出发,主要研究悬浮质量以及悬浮刚度对整体系统动态性能的影响,并在进行缩比单元动态试验结论的基础上,建立试验模型的加速试验动态采集系统,对整体模型进行运行性能试验.在试验基础上提出了提高磁悬浮推进系统运行稳定性的依据,并据此提出相应可行的解决方案设想.通过模型加速试验并采集试验数据定性分析磁浮系统的综合运动性能,以更好地评估系统稳定特性和品质,也为进一步研究磁悬浮助推发射的气动、分离系统稳定性和可靠性提供参考.  相似文献   
102.
关于表面温度测试中的几个问题   总被引:1,自引:0,他引:1  
SomeProblemsonSurfaceTemperatureMeasurementChengYujun表面温度的测试是温度测试的重要组成部分。在科学研究、工业工艺过程(如纺织,冶金,化工等)、环境保护、航空航天技术中,都有大量表面温度测试技术问题,它们在过程控制,质量保证等方面起着重要作用。近年来各国发表了一些有关表面温度测试的论文,说明表面温度测试技术又有新的发展。但是由于表面温度测试技术的特殊性,使其仍然面临许多有待进一步解决的问题:如表面温度计的分度技术;传感器周围环境的影响;传感器在被测表面的敷设对被测面温度场的破坏;传感器的导热、…  相似文献   
103.
综述了MIL -STD -1 553BRT有效性测试计划的诞生、发展及其应用情况 ,并对国内在RT有效性测试方面的研究与应用进行了介绍  相似文献   
104.
阐述了MIL-STD-1553B总线综合测试系统的组成、功能、用途、软件设计和关键技术问题。  相似文献   
105.
介绍了可互换的虚拟仪器技术的技术背景、体系结构、类驱动器、测量和激励子系统等,讨论了在ATE中基于信号的测试方法,建立了一个基于IVI技术和信号测试的ATE,将信号测试和可互换的虚拟仪器技术结合起来,实现测试程序和测试仪器之间的松耦合,在更高的层次实现测试仪器的可互换和测试程序的可移植。  相似文献   
106.
本文介绍了针对TJ-1角加速度陀螺和GJ-30线加速度计等产品频率测试而设计的开发的《动态信号分析采集系统》的原理、功能、设计说明及特点等。  相似文献   
107.
卢俊  贾嵩  王源  张钢刚 《航空计算技术》2007,37(3):86-89,93
从仿真和流片两个方面对标准单元库的验证方法进行了研究.在仿真方面,提出了采用静态时序分析工具和SPICE仿真工具对单元的估算值和仿真结果进行比较分析的方法来验证,同时还给出了具体的操作步骤实例.在流片验证中,提出了一种非常有效的电路结构.这种电路结构不但能够准确验证时序,还能极大地减少PAD数量;最重要的特点是:该电路能够完全避免PAD和非被测单元的引入带来的额外延迟,从而得到准确的被测单元延迟.  相似文献   
108.
ZrO2陶瓷热障涂层显微结构及隔热性能研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
用电子束物理气相沉积法(EB-PVD)在DZ125高温合金上制备Y2O3部分稳定化的ZrO2(YSZ)陶瓷热障涂层,并用扫描电镜(SEM)观察涂层显微结构.采用激光脉冲法对EB-PVD热障涂层的热扩散系数进行测试.为防止热扩散系数测试时激光穿透ZrO2陶瓷层,在试样表面制备不同材料的遮挡层.结果表明,EB-PVD热障涂层呈明显的柱状晶结构,柱状晶垂直于涂层/基体界面.基体的热扩散系数随温度的升高而急剧增加,陶瓷热障涂层的热扩散系数随温度的升高呈下降趋势,但变化幅度不大.室温下陶瓷层的热扩散系数小于基体的1/3,1200℃时约为基体的1/67.试样的激光遮挡层很好解决了激光脉冲法测试涂层热扩散系数时的不稳定性和激光穿透问题.在满足遮挡要求的条件下,遮挡层材料种类对热扩散系数测试无明显影响.  相似文献   
109.
自动测试系统适配器自动设计技术   总被引:1,自引:0,他引:1  
 针对当前自动测试系统(ATS)适配器设计中存在的“自动化程度较低、缺乏通用性”的不足,开发了ATS通用适配器自动设计技术。建立了一整套通用适配器自动设计流程,在依次完成通用端口设计、UUT测点资源匹配、适配器开关网络设计、相关工程设计后即可实现自动设计一个通用适配器的目的。以某机载通讯设备自动测试系统为例,采用该技术可缩短ATS适配器开发周期至原来的1/3,降低开发成本,提高设计的标准化、通用化程度,适配器需要量由5个减为1个。  相似文献   
110.
用自由空间法测量材料复介电常数的研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
分析电磁波在自由空间通过平板电介质材料的传播特性,得到了散射参数与复介电常数之间的关系式和求解复介电常数的三种表达式,并对三种表达式分别进行误差分析.解决自由空间法测量电介质材料复介电常数的不稳定性问题和相位模糊性问题.建立测试系统,并在X波段对平板电介质材料进行测量.实验结果表明,本测试方法和测试系统是正确的.  相似文献   
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