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721.
X射线脉冲星导航真实运行场景的模拟验证手段尚不够完善,限制了导航和探测理论的发展及工程化应用的实现。提出了基于脉冲星辐射特性和航天器轨道模型的X射线脉冲星动态信号模拟方法,设计了能实现多种实验场景模拟的X射线脉冲星模拟源,并根据脉冲星辐射特性构建了“天枢Ⅱ号”X射线脉冲星导航地面实验系统,可以高质量复现脉冲星导航空间运行场景。设计了静态及动态不同类型的实验对实验系统的性能进行了验证测试,针对PSR B0531+21、PSR B1937+21两颗脉冲星,开展了静态模拟实验,获得的脉冲轮廓相似度分别为99.5%、99.1%;开展了200 km轨道高度的动态近地圆轨模拟实验,PSR B0531+21、PSR B1937+21的周期测试值和理论值的偏差分别为38 451、350 ps,还原到SSB(Solar System Barycenter)处的轮廓相似度分别为99.86%、99.99%。实现了椭圆轨道的超实时仿真实验,仿真时长可压缩50%,轮廓相似度为99.89%。实现了基于霍曼变轨模型的轨道机动模拟,周期变化的测试值与理论值的偏差标准差为637 ps。该地面实验系统性能稳定,可以满足不... 相似文献
722.
为研究不同钝化工艺栅介质用SiO2薄膜的高能电子辐射缺陷特征,采用能量为1 MeV的高能电子在辐照注量为1×1015 e/cm2、5×1015 e/cm2和1×1016e/cm2下对三种不同钝化工艺(I,700 nm SiN + 500 nm PSG;II,1.2 μm SiN;III,700 nm PSG + 500 nm SiN)的SiO2薄膜进行了辐照试验。拉曼光谱和X射线光电子能谱结果表明I和III钝化工艺SiO2薄膜形成了非晶硅及双氧根离子,傅立叶红外光谱结果表明I钝化工艺SiO2薄膜形成缺陷结构未知的A1、A2、B1及B2缺陷;II钝化工艺SiO2薄膜形成A1、B1、及 缺陷;III钝化工艺SiO2薄膜形成A1、 及B2缺陷。 相似文献
723.
724.
为了解辐照对航天电子元器件封装基板复合材料SiCp/Al的影响,利用3 MeV Fe11+束流进行了不同注量下的辐照实验。辐照完成后,利用X射线衍射(XRD)仪和纳米压痕仪对材料进行表征分析。XRD分析表明,Fe11+离子入射后材料辐照层应力发生了变化。结合对应的理论模型,对铝基体的位错密度进行计算,发现辐照后铝基体的位错密度增加,SiC颗粒产生非晶化。纳米压痕测试表明,随着离子注量增加,材料辐照硬化程度增加。综上,辐照硬化可能是由于铝合金基体的应力变化导致产生局部高密度位错区,而这些区域阻碍了后续位错的运动,进而导致位错聚集,最终使得材料硬度增加。 相似文献
725.
726.
为了准确测量焊接接头典型缺陷的尺寸,提出了一种基于半波高法(HWH)的焊接接头缺陷数字射线尺寸测量技术。首先,分析了数字射线检测系统的调制传递函数(MTF),确定了检测系统的空间分辨率。其次,对焊接接头的典型缺陷进行模拟,通过半波高法测量其尺寸。结果表明:依据瑞利判据,运用双丝像质计测定该检测系统的空间分辨率为4.5 Lp/mm;运用该方法测量焊接接头缺陷尺寸,与实际尺寸基本相符,误差小于6.3%,该方法避免了人为因素的影响,精度可满足日常产品的检测需求。 相似文献
727.
在低地球轨道,低能质子辐照是造成空间光学元器件损坏的重要因素之一。激光高反射薄膜是空间激光系统中激光产生和输出部件的重要组成部分,其激光损伤性能变化直接影响激光系统的稳定性。文章采用地面空间环境模拟装置模拟低能(40 keV)质子单独作用效果,通过定点原位测量技术和光热吸收测试获得薄膜的光谱透射率、表面形貌和光热吸收特性,采用激光损伤阈值测量方法表征微小初始破坏的激光损伤阈值及损伤形貌;结合SRIM程序模拟计算粒子在材料中输运的具体过程,定量分析过程中的能量损失情况。试验结果表明,40 keV质子辐照会造成HfO2/SiO2三波段高反膜的激光损伤阈值明显降低。 相似文献
728.
729.
派瑞林(Parylene)薄膜主要用于功率电刷的三防,确保电功率的稳定传输。本文对两种规格(17和27 μm)Parylene薄膜的厚度、热性能、绝缘性能、在铍青铜上的附着性能以及耐空间辐照性进行了研究。结果表明:通过真空气相沉积法制备的Parylene-C涂覆材料厚度误差可控在2 μm内;膜层在铍青铜上的附着力等级为1级,薄膜热分解温度为453 ℃,两种厚度薄膜击穿电压分别为3.65 kV(17 μm)和5.27 kV(27 μm);经2.5×1015 p/cm2质子辐照后,膜层外观均完好,附着性能、热性能、绝缘性能仍满足工程使用需求;经2.5×1016 e/cm2电子辐照后,膜层出现严重开裂、起皮现象。对电子辐照前后膜层的热性能、红外结构等进行了进一步的研究,分析了电子辐照后膜层的失效机理并获得了Parylene-C涂覆材料膜层耐空间电子辐照上限为1×1014 e/cm2。 相似文献
730.
使用穿透电压和较大的曝光量可以增大影像的对比度,进而提高射线检测灵敏度。但为了完成对变截面物体的高效率检测,实践中经常会使用较高的透照电压和较小曝光量这种宽容度照相模式,因此带来了检测灵敏度的降低。为了揭示这个过程中灵敏度的变化情况,引入了透照电压和透照电流相互作用的理论分析,设计了以铝材质为研究对象的宽容度照相灵敏度分析模型,结合数据规划分析,描述出宽容度照相模式下检测灵敏度的变化趋势。从理论上说明了宽容度照相模式可具备相当的检测灵敏度,用实践验证了灵敏度的变化规律。可穿透电压提高40%后,检测灵敏度仍满足相关标准要求。宽容度照相具有可靠的检测灵敏度。 相似文献