X射线衍射技术对InSb材料的无损检测

采用2θ-ω对称扫描,对(111)、(333)、(044)不同衍射面进行了ω扫描,得到了InSb不同衍射面之间强度和半峰宽度的规律;对晶片上不同位置进行了同一衍射面的ω扫描,得到半峰宽度的mapping,此外,还对材料进行了倒易空间(RSM)扫描。测试结果表明InSb材料结晶质量完好,均匀性好,符合制造良好光电器件的标准。     

用高能X射线探伤控制发动机质量

阐述了固体发动机高能Ｘ射线探伤在产品研制、生产、试验中的重要性。对探伤技术中的几个重要环节加以说明。并介绍了探伤操作过程质量控制措施。     

智能化γ射线报警装置

本文介绍一种单片机作为中央管理器，以Ｇ－Ｍ计数管为传感器的智能化γ射线报警装置，可以用做场所监测和个人剂量监测，同时可以报警。     

宇宙创世之谜

死光之源在无垠太空的深处，潜藏着可怕的毁灭之光。毁灭之光所到之处，一切生命都被荡涤干净。毁灭之光是在无法想像的巨大物质爆发时产生的，在浩瀚的宇宙中，这种大爆炸每天都要发生几百次。多年来，科学家一直在探索这种死光的来源。现在，他们也许终于找到了答案，而这个答案也蕴含着宇宙创世的大秘密：宇宙是怎样诞生的？生命是如何出现的？当我们仰望夜空的时候，能看到满天繁星闪烁，然而，很多亿年前，宇宙并不是现在这个样子。那时的宇宙一片黑暗，没有生命，没有星星———那就是宇宙大爆炸刚刚止息之时。宇宙开始于１４０亿年前…     

ROSAT宽视场相机的污染与洁净

1990年6月1日由德、美、英三国联合研制的ROSAT卫星发射升空。英国在该项目中主要承担了远紫外线宽视场相机(XUV WFC)的任务。本文将描述在WFC研制生产过程中采取的洁净与污染控制措施,包括一些必要的设计方案,在组装、总装、测试过程中遇到的一些问题及获得的经验。本文讨论大量的污染问题、所采取的测量方法及得到的结论。这些方法和从中获取的经验会对以后研制对污染更敏感的项目起到十分实际的借鉴作用。     

关于提高X射线探伤灵敏度的探讨

本文以焊缝探伤为例,对X射线探伤中的电压、焦距、底片黑度,角度诸种参数以及工件厚度对灵敏度的影响进行了综合分析,并对一些参数的选择进行了讨论。     

一种星载信息系统微系统电路设计

基于星载信息系统高集成化、轻小型化和智能化的发展需求,微系统电路通过SOC/SIP等先进集成电路设计技术将CPU、 FPGA及相关功能的裸芯片高密度集成。相比传统卫星研制方式,微系统电路的体积、重量、功耗显著减小,且产品研制周期由于模块化、通用化设计得以缩减。文章介绍一种基于RISC-V指令集处理器的星载信息系统微系统电路设计方案,采用基于RISC-V指令集的双核处理器作为微系统控制核心;通过架构优化设计集成RISC-V处理器核、 FPGA、存储芯片、接口电路等;考虑空间环境的影响,通过结构级抗辐照加固设计提升微系统电路的在轨运行可靠性。     

基于130nm 工艺嵌入式SRAM 单粒子软错误加固技术研究

在空间环境中,嵌入式SRAM 易受高能粒子的作用发生单粒子软错误,针对这一现象,文章研究了深亚微米工艺下嵌入式SRAM 的单粒子软错误加固技术,提出了版图级、电路级与系统级加固技术相结合的SRAM 加固方法以实现减小硬件开销、提高抗单粒子软错误的能力。并基于该方法设计了电路级与TMR(三模冗余)系统级加固相结合、电路级与EDAC(纠检错码)系统级加固相结合和只做电路级加固的3 种测试芯片。在兰州近物所使用Kr 粒子对所设计的测试芯片进行单粒子软错误实验,实验结果表明,系统级加固的SRAM 抗单粒子软错误能力与写入频率有关,其中当SRAM 的写入频率小于0. 1s 时,较只做电路级加固的芯片,系统级和电路级加固相结合的SRAM 可实现翻转bit 数降低2 个数量级,从而大大优化了SRAM 抗单粒子软错误的性能。并根据实验数据量化了加固措施、写频率和SRAM 单粒子翻转截面之间的关系,以指导在抗辐照ASIC(专用集成电路)设计中同时兼顾资源开销和可靠性的SRAM 加固方案的选择。