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相似文献
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1.
研究了在紫铜基材上用离子束增强沉积法(IBED)沉积TiB2薄膜后,在600,700和800℃的空气中氧化的动力学曲线;在INH2SO4溶液中,用动电位扫描法测定了其极化曲线和极化阻力,用SEM观察了其形貌,用俄歇电子谱仪(AES)分析了膜的成份,用X-射线衍射仪(XRD)研究了膜的微观结构;讨论了TiB2薄膜具有优良耐蚀性的机理。  相似文献   

2.
用溶胶-凝胶法在非晶玻璃上制备VO2薄膜,经过熔融、涂膜、烘干和热处理等工艺最后得到电阻相变2-3个量级的VO2薄膜。对烘干温度、熔融温度、膜厚和热处理温度对薄膜电阻开关特性的影响进行了研究。通过XRD(X-ray diffraction)和XPS(X-ray photoelectron spectroscopy)对薄膜的结构和价态进行分析,表明用溶胶-凝胶法制图VO2膜工艺简单,重复性好。  相似文献   

3.
过渡金属与硅的接触系统一直被人们所关注,是因为它们在界面处具有肖特基势垒的形成、过渡金属硅化物的外延生长、制作器件的稳定和耐高温等重要性.因此在硅基底上形成金属硅化物薄膜也被广泛应用于半导体工业.对硅衬底上蒸发的Cr、Fe、Mn薄膜进行热处理,通过固相反应法(SPR)制备过渡金属硅化物薄膜,即经过对过渡金属硅化物(薄膜)/Si系统进行各种温度、不同时间的热处理,制备出各种过渡金属硅化物薄膜.对于制成的各种硅化物薄膜,用X射线衍射法(XRD)和软X射线发射分光光谱法(SXES)对它们的组成成分进行了分析和确认.并且,由这两种分析方法表明:各种过渡金属硅化物薄膜在硅衬底上各形成了单一相的均匀层硅化物薄膜.  相似文献   

4.
掺杂纳米硅薄膜的生长特性   总被引:2,自引:0,他引:2  
采用等离子增强化学气相沉积(PECVD)方法成功的沉积出掺杂(主要是磷、硼)纳米硅薄膜.探讨了各种生长工艺条件对掺杂纳米硅薄膜的结构与性能的影响及其规律.利用高分辨电镜(HREM)、Raman散射等手段对掺入不同杂质后的纳米硅薄膜的微结构进行初步研究,并从实验和理论上对掺杂纳米硅薄膜的生长特性进行了探讨.得出掺杂纳米硅薄膜具有与掺杂非晶硅薄膜和掺杂微晶硅薄膜不同的生长特性,即杂质原子绝大部分是非活性的,只有很少一部分在薄膜中起施主作用.大部分非活性的杂质原子存在于晶粒间界.  相似文献   

5.
1986年2月的高太阳活动研究—IV日地扰动事件耦合初析   总被引:1,自引:1,他引:0  
利用光学、射电、软X射线和硬X射线观测资料,对1986年2月系列太阳爆发中最大的两个耀斑作相似与相异性的分析,解释它们近地空间效应的区别,对该系列太阳爆发事件和叠加在一起的地球事件作认证研究。  相似文献   

6.
最新消息     
美发射X射线宇宙控测卫星 据新华社华盛顿消息,美航宇局于1995年12月30日上午用德尔他运载火箭在卡纳维拉尔角发射了一颗大小与一辆小公共汽车相当的卫星,以期在X光波段内进行为期至少两年的天文探测。这颗名为“X光同步探测器”的卫星,价值1.95亿美元...  相似文献   

7.
利用1992年10月27日耀斑极为完整的高质量观测资料,通过对可见光、软X射线和硬X射线图像和光谱的综合分析,诊断耀斑过程中的热与非热性质,结果表明,在这个事件中,热与非热过程并存且在时空演化上呈现不同的特征  相似文献   

8.
22太阳活动周的δ黑子群与X级X射线耀斑   总被引:3,自引:0,他引:3  
用22太阳活动周的221个δ黑子群(从1986年至1991年),研究δ黑子群的特性,δ黑子群与X级X射线耀斑(XXF)之间的关系。1.证实了Tang,Zirin和Liggett的发现,所有δ黑子群源于二个偶极黑子区,由其中之一的前导黑子与另一的后随黑子相互渗透而构成;在δ黑子的极性分界线上,磁场是强烈地剪切的,同时还找到了许多δ黑子解体的事例,这点与Zirin(1987)的结论相悖,δ黑子的解体是  相似文献   

9.
参考图片     
1996年3月27日,当Hyakutake彗星穿越距地球16000千米上空时,德国的伦琴卫星(Rosat)探测到了来自这颗彗星的强大的X射线信号。美航宇局的科学家们称,这是迄今为止,人类第一次探测到的来自彗星的X射线信号。通过转换,把这些X射线的数据...  相似文献   

10.
利用自行合成的含磷芳香族二胺单体--二(3-氨基苯基)苯基氧化磷(DAPPO),制备了一系列含磷聚酰亚胺薄膜.在原子氧地面模拟设备中对该薄膜进行了原子氧暴露实验,并采用场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)和X射线光电子能谱(XPS)等分析手段对原子氧暴露前后薄膜表面的聚集态结构和化学结构演化进行了分析.结果表明,原子氧暴露后,引入含磷二胺单体的聚酰亚胺薄膜表面形成了富磷保护层,剥蚀率减小,抗原子氧性能明显提高, 磷质量分数为5.47%的聚酰亚胺薄膜在原子氧作用20h的总剥蚀率分别降低为Kapton和Upliex-R型聚酰亚胺的13%和20%.  相似文献   

11.
直流磁控溅射ZnO:Al薄膜的光电和红外发射特性   总被引:6,自引:0,他引:6  
以锌、铝合金(ω(Al)=3%)为靶材,利用直流反应磁控溅射法制备了系列掺铝氧化锌ZnO:Al(ZAO)薄膜样品,通过X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、分光光度计、霍耳效应及红外发射率测量仪等测试仪器或方法表征了样品的结构、形貌、光学、电学及红外发射特性.测得样品最低电阻率达到1.8×10-6(Ω·m),最大禁带宽度为3.47?eV,可见光区平均透过率达到90%,8~14?μm波段平均红外发射率在0.26~0.9之间.上述特性均随衬底温度和溅射功率的变化有着规律的变化.当方块电阻小于45?Ω时,薄膜在8~14?μm波段平均红外发射率与方块电阻遵循二阶函数变化规律.  相似文献   

12.
利用射频磁控溅射法制备出具有良好光电性能的In2O3: W(IWO)薄膜,与购置的In2O3: Sn(ITO)薄膜一起,在伽马射线地面加速模拟试验设备中进行辐照试验。对辐照前后两种薄膜样品的微观结构、表面形貌、光电性能和元素价态进行对比分析,并用正电子湮没方法研究辐照前后的缺陷情况。结果表明,伽马射线辐照可引起ITO及IWO薄膜样品中氧空位缺陷的少量增加,且缺陷主要产生于薄膜表层及薄膜与基底界面结合处。高能伽马光子作用于透明导电氧化物薄膜,主要通过破坏其内部结合能较低的化学键,并实现薄膜系统中元素之间的选择性重组。ITO与IWO具有良好的抗伽马辐照性能,IWO相比ITO更适合于抗伽马辐照相关应用。  相似文献   

13.
微颗粒表面磁控溅射镀金属膜实验   总被引:1,自引:0,他引:1  
采用磁控溅射方法,成功地在微颗粒表面沉积了金属铜膜和金属镍膜.利用光学显微镜(OM)、场发射扫描电子显微镜(FESEM)、能谱仪(EDS)、多功能扫描探针显微镜(SPM)、电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-AES)和光电子能谱仪(XPS)等测试仪器对其表面形貌、膜厚和组份进行了表征.重点讨论了不同的沉积条件对薄膜结晶的影响,并用X射线衍射仪(XRD)对其进行了表征.结果表明,溅射镀膜时,通过控制微颗粒的运动方式,可以在微颗粒表面镀上均匀性好、附着力强和致密性好的金属膜.溅射时间越长或溅射功率越大或装载量越少,都有利于薄膜结晶.   相似文献   

14.
星用抗静电导电膜光电性能评价方法   总被引:2,自引:0,他引:2  
对卫星表面某些高绝缘材料表面,通过物理气相淀积(PVD)技术进行改性使之满足卫星表面控制充电的要求,是一种极为有效的技术途径。但为了高可靠与长寿命,必须对所制备的膜进行充分和必要的各项性能检验与考核。这包括充电性能、光电性能和膜在各种条件下的稳定性试验。文章就这一系列的试验要求和目的作了讨论。  相似文献   

15.
用射频溅射制备了一组厚度不同的NiSiB非晶态薄膜.在不同温度下,用不同时间对薄膜进行了循环退火.实验测量了循环退火后的薄膜电阻随温度的变化,得到可逆和不可逆两组曲线.厚度较大(>1 000)的薄膜,电阻随温度的增加而增大,厚度较小(<400)的薄膜,电阻随温度的增加而减小.电阻温度系数有正有负.从非晶态材料的结构弛豫出发,应用激活能谱模型和推广的Ziman理论讨论了实验所得的结果.  相似文献   

16.
本文说明了航天器表面充电状态被动控制的概念及其优点。用反应磁控溅射技术制备了适用于充电状态被动控制的氧化铟/锡膜、氧化铟膜及氧化锡膜。给出了这些膜的透过率、发射率、表面电阻率。在模拟空间(含亚暴)的环境条件下,对这些膜的充电特性作了评估。实验和测试表明这些薄膜性能完全符合NASA提出的规范要求。  相似文献   

17.
本文给出了研制的三种抗静电薄膜系列:ITO,IO,TO的电学,光学性能实测结果。薄膜系用磁控溅射方法在Kapton,Mylar等柔性基底上制备。试验表明导电的稳定性很好。同时还进行了模拟亚暴环境下抗静电膜的表面电导测试。结果表明经过改性的柔性二次表面镜可有效地消除静电积,累使电位控制在80V以下,而未经镀敷抗静电膜的柔性二次表面镜,表面充电电位可高达8-10kV。  相似文献   

18.
 研究了掺磷对纳米硅薄膜微结构和电学特性的影响.指出气相掺杂能使nc-Si:H膜中磷原子浓度达到原子分数5%的水平,掺杂效率可达η≈1.0%.掺磷后能使薄膜暗电导率提高两个数量级,达到σ=10-1~101S·cm-1,电导激活能ΔE=(1~6)×10-2eV水平.掺磷能促使nc-Si:H膜更加有序化且晶粒尺寸变小,这有利于使纳米硅薄膜往应用方向发展.  相似文献   

19.
    
为了得到在低能条件下更为精确的Ar~+和Xe~+轰击SiO_2的溅射模型,对已有化合物溅射模型进行调研分析,总结了3种溅射模型,分别为Pencil模型、Bach模型和Seah模型,并对其不足之处加以分析。在Seah模型基础上,对溅射阈值采用新的计算方法,并利用等效原子法改进溅射参数和表面键能的计算方法,形成改进后的新模型。结合已有的关于Ar~+和Xe~+法向轰击SiO_2的实验数据,对4种模型的计算结果进行对比分析。对于Ar~+和Xe~+法向轰击SiO_2,改进后的溅射模型的均方根误差最小,拟合优度最高,均优于其他3种模型。说明在低能状态下,采用改进后的模型可以更为精确地计算Ar~+和Xe~+轰击SiO_2的溅射率。  相似文献   

20.
研究了碳氢气体通过射频辉光放电沉积类金刚石碳膜。研究了射频电压和沉积时间对膜厚和维氏显微硬度的影响。此外,还进行了微动磨损试验。本实验所用的碳氢气体为C_2H_2,基体材料为TC4钛合金(Ti-6%Al-4%V)和45钢(Fe-0.45%C)。  相似文献   

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