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在Si上生长的异质GaAs外延薄膜(记作GaAs/Si)中,存在着深能级,它们是由各类缺陷的各种不同荷电态所导致的。这些缺陷则是由于GaAs与Si之间存在着很大的晶格失配及热膨胀系数差异所引起的。研究了与GaAs/Si的深能级有关的变温与变激发强度的近红外光致发光谱。实验中所用的GaAs/Si样品是用MOCVD方法生长的,而且具有不同的[As]/[Ga]比。利用组态模型,通过测量发光峰在半极大处的全宽度随温度的变化,获得了Franck-Condon位移。考虑了GaAs/Si的带隙随温度与随失配形变的移动。利用所获得的Franck-Condon位移及带隙移动,修正了施主-受主对、导带-受主及施主-价带间跃迁的能量关系式,给出了新的表达式。按照建立的新的跃迁能量表达式及GaAs/Si外延薄膜发光谱的特征,鉴定出GaAs/Si中的三个发光峰属施主-受主对复合发光,另外两个发光峰则是由As填隙-Ga空位的复合发光中心所产生。 相似文献
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hyperMILL是一款集成化2D/3D的CAM解决方案,它可以集成于Autodesk的Mechanical Desktop~TM,think3的thinkde-sign, Dassault的CATIA以及CoCreate的SolidDesigner等环境内。在这些熟悉的软件环境下,用户可以直接将这些CAD设计转变为用于加工的NC代码。 相似文献
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紫英 《航空精密制造技术》1995,(2)
无公害发黑处理美国BichwoodCasey公司开发出一种快速发黑处理工艺(PrestoBlackProcess)。这种工艺能够把一种防护性发黑涂层敷到多种金属零件上而不产生常见的加热氧化技术所发生的危险烟雾和飞溅现象.这种系统不污染环境,因为该系统... 相似文献
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安卫 《航空精密制造技术》1996,(3)
一种新型的桥式三坐标测量机英国0田向讪的一tesilEastmanMbdlll.公司已制造出一种新型的桥式三坐标测量机(CMM)——EastmanSlllYlllllt.这种CMM上装有英国H~公司生产的llF121线性光栅尺,使其即使在进行快速检测... 相似文献
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安卫 《航空精密制造技术》2000,(5)
Brown&Sharp公司进军瑞士Brown&SharpTesaSA公司正在推出一整套瑞士造毓高精密测量仪器。产品中的绝大多数装有其新型的获得技术专利的“capa μ system”系统。这种系统是在综合了最新的模拟/数字信号技术的基础上开发研制的,可以提高测量系统检测速度和精度。在新的毓产品中包括:各种不同型号的电子式TesaMicromaster内径千分尺,如新型TesaDigital-Cal150,200和300电子式内径千分尺;TesaImicroCapa电子式孔径测微器及最新型的电子式… 相似文献
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DECENTRALIZEDROBUSTCONTROLFORUNCERTAINFLEXIBLESPACESTATIONWangQing;ChenXinhai(CollegeofAstronautics,NorthtvesternPclytechnica... 相似文献
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WALLINTERFERENCECORRECTIONSFORHIGH-LIFTEXPERIMENTZhangWenhua(Faculty603ofNanjingUniversityofAeronauticsandAstronautics,Nanjin... 相似文献
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模拟高度复杂流动的自适应网格算法 总被引:1,自引:0,他引:1
提出一种基于对等弧分布律进行扭转修正的自适应网格算法。该方法将三维网格系统分裂为3个单方向自适应网格子系统,在计算中与主控方程的求解格式相耦合,交替地使用。应用所构造的算法结合MacCormack显式格式对喷流/绕流干扰流场进行了雷诺平均N-S方程模拟,给出了清晰的剪切层与激波波系结构。计算结果表明,该自适应网格算法可较大程度地提高MacCormack格式的分辨率。 相似文献