加速退化试验测量不确定度评定方法

受测量分散性、仪器误差等因素影响，加速退化试验中存在测量不确定性问题。提出了加速退化试验测量不确定度的传播与评定方法，以提高试验评估结果的准确性和可信性。首先，介绍了加速退化试验中的测量不确定度来源，并结合维纳过程加速退化模型参数估计过程分析了测量不确定度的传播效应；其次，分别利用测量不确定度指南评定法（GUM）和蒙特卡洛法，量化评定了加速退化试验中性能观测数据测量不确定度对正常应力水平下产品可靠性评估结果的影响；最后，采用某型空间用高分子传感器案例对本文所提方法进行验证，并针对2种方法的估计结果进行了对比分析，验证了所提出方法的有效性。     

基于秩相关系数的加速贮存退化失效机理一致性检验

利用加速贮存试验数据推断长贮产品贮存寿命的前提是,提高应力水平仅仅增大失效速率而不改变失效机理.提出了基于Spearman秩相关系数的贮存退化失效机理一致性检验的非参数定量方法.分析了加速贮存退化失效机理一致性检验的内涵就是检验退化曲线形状的一致性;然后给出了基于Spearman秩相关系数检验配对样本序列一致性的原理和步骤;进一步,通过某型发射药实例数据和单调递减退化仿真数据,验证了方法的有效性.      

加速退化模型及外推结果准确度的定量验证方法

加速退化试验本质上是牺牲可靠度评估精度换取可靠度评估效率,外推出的可靠度结果通常会与真实值存在一定的偏差,因此,验证加速退化模型与外推结果的准确度是非常必要的。根据可靠性建模的步骤设计了验证加速退化模型及外推结果的技术流程,结合Wiener-Arrhenius加速退化模型构建了验证技术框架。采用了基于假设检验的模型验证方法,利用Kolmogorov-Smirnov检验法、Anderson-Darling检验法分别验证Wiener退化模型、加速退化模型及外推的可靠度模型是否合理。提出了具有工程实用性的基于面积比的外推结果验证方法,利用蒙特卡罗仿真解决复杂可靠度函数积分问题,用于定量表征外推结果的准确度,通过面积比阈值判定是否接受外推结果。通过惯导系统伺服电路实例应用说明了技术框架的可行性与有效性,研究工作为解决加速退化试验中的验证难题做出了有益的探索,所提出的各种定量验证方法具有较好的工程应用价值。     

基于ARM的嵌入式系统的可靠性强化试验定量分析评估

针对可靠性强化试验难以定量计算产品可靠性指标的问题,采用应力强度模型和数理统计理论,提出一种通过强化试验数据计算产品外场可靠度的工程适用方法。在对某基于ARM微处理器的嵌入式系统进行可靠性强化试验的基础上,采用该方法计算出产品在振动环境条件下的外场可靠度。提出的方法能够对改进产品可靠性起指导作用。     

基于加速退化数据的某型电连接器可靠性评估

某型电连接器属于高可靠性、长寿命产品,在短时间内很难获取其失效数据。为了评估其可靠性,在分析其失效机理的基础上设计了步进加速退化试验,通过分析加速退化数据外推出产品在正常工作应力水平下的可靠度函数。试验中以电连接器的接触电阻作为性能参量,选取温度作为加速应力。数据分析时,利用Wiener随机过程对样品退化进行建模。为了提高模型参数的估计精度,采用极大似然法对所有性能退化数据进行整体统计推断。外推其在工作温度下的可靠度时,针对工作温度不恒定的情况利用等效温度表示温度对该产品的综合作用效果。结果表明,提出的基于加速退化数据分析的方法实用、有效,成功实现了某型电连接器的可靠性评估,并可为其他高可靠性产品的可靠性评估工作提供借鉴。     

基于退化模型的失效机理一致性检验方法

有效的加速试验必须保证产品的失效机理不变。针对加速退化试验(ADT)可靠性建模的特点,提出了一种基于退化模型的失效机理一致性检验方法。以基于随机过程和基于退化轨迹拟合的退化模型为例,通过加速系数的2种等效定义分别建立了模型参数与失效机理不变的内在联系,进一步推导出其参数在不同应力下须满足的关系。在合理假定检验样本服从正态分布的基础上,利用t统计量对样本的一致性进行检验。通过2个ADT实例验证了所提检验方法的合理性与可行性。     

基于加速退化模型的卫星组件寿命与可靠性评估方法

针对卫星产品长寿命、高可靠性的特点,提出了使用加速退化试验的方法来评估卫星用微波接收机的寿命与可靠性指标.首先,在确定微波接收机关键模块与相应失效机理的基础上,选择了适用的加速模型.然后,通过分析产品性能的实际退化过程,选择漂移布朗运动对此进行拟合,并结合漂移布朗运动首达时(first passage time)服从逆高斯分布的特点,建立了产品的可靠性模型.最后,采用极大似然结合最小二乘的评估方法,对该关键模块的恒定应力加速退化试验的蒙特卡罗仿真结果,进行了产品的寿命与可靠性评估并且得到了合理的结果,从而验证了本文方法的正确性.     

基于性能退化模型的空间电子学设备加速寿命试验研究与应用

对基于Arrhenius模型、Norris-Landzberg模型和Peck模型等模型的加速寿命试验理论进行了简要阐述,针对空间应用系统空间电子学设备可靠性特点和加速寿命试验难点,提出了一种基于性能退化模型的电子学整机系统加速应力试验方法,最后给出了实例,为减少试验设计中的不确定性因素提供了一种新的思路。     

基于加速退化试验和粒子滤波的电子设备故障预测方法

针对导弹电子设备故障预测问题,提出了一种基于综合环境加速退化试验(ADT)和粒子滤波的故障预测新方法。首先,不同于传统的ADT方案,仅以单个样本为试验对象,采用步进加速的思想,将性能退化理论拓展为加速性能退化理论(APDT),建立基于电子设备寿命退化速度的加速寿命退化模型。其次,为克服环境应力等测试不确定性因素对预测精度的影响,定义了电子设备退化度的概念,将寿命预测的不确定性问题转化为设备退化度最优估计问题,利用改进粒子滤波算法求解出电子产品动态退化的最优估计值,进而实现设备的全寿命评估。最后,实例说明该方法可行、有效,并大大提高了试验的效费比。     

基于性能退化数据的可靠性建模分析

针对传统可靠性评估方法难以解决高可靠度、长寿命产品的可靠性评估问题,本文在使用失效时间数据的基础上,提出了使用产品的性能退化数据的方法。在很多情况下,退化过程中的性能退化数据比失效时间数据更有价值。文章介绍了退化数据的优点,提出了对产品退化的一般轨迹模型;针对高可靠度的产品提出了基于退化轨迹和退化量分布的两种评估方法,并用实例分别对两种评估方法进行展开应用,验证了方法的有效性。