微波网络的正切参数表征及其应用

本文从微波网络的S参数出发,导出表征无耗互易二端口网络的正切参数。详细讨论了以这种表征为基础的S曲线测量法,并以三个典型测量实例说明这种方法具有精度高、可自校的特点。在测量诸如同轴/微带等非对称微波网络的插入驻波比及有关参数时,这里讨论的方法无疑是目前的优选方案。     

微带介质基片介电常数的导内波长法测量

介绍了一种通过测量微带的导内波长来间接测量介质基片的介电常数的方法,给出了导内波长的测量方法,介电常数的计算公式,以及推导出测量误差分析的数学模型。并举实例加以说明。     

气体密度超声检测法的研究

介绍了一种利用超声技术在线快速测量气体密度的方法。其原理是测出气体介质的压力和声速后,再根据由热力学和弹性介质力学建立起来的压力、声速和密度之间的关系算出密度。所有监控、测量和数据处理均由微机完成。还给出了在几种不同介质中的试验结果,并对结果进行了半定量的误差分析。与理论分析相比,有较好的一致性。超声检测法是一种在线检测气体密度的新方法。     

从闭合式格林函数推导微带表面波本征值方程

从闭合式格林函数推导出微带介质结构的表面波本征值方程,给出了一种新的表面波本征值方程的推导方法。在闭合式格林函数中,通过推导出平面介质结构的表面波本征值方程,可以方便的从中提取出表面波的贡献,从而使其用Prony’s方法或GPOF方法近似时,可使曲线更平滑,提高近似的精度     

有介质覆盖层的微带偶极天线的辐射场和所激励的表面波

本文给出了有介质覆盖层的微带偶极天线的格林函数表达式,计算了辐射场,并对这种结构中的表面波现象作了较仔细的分析,讨论了一些对设计天线阵、表面波天线有意义的表面波特性。     

Ku/Ka双频共口径微带阵列天线设计

采用双频段天线共面嵌套放置,实现了结构紧凑的Ku/Ka双频共口径微带阵列天线设计。Ku频段天线单元采用微带线侧馈,Ka频段天线单元通过在接地板开L形缝隙进行耦合馈电实现圆极化工作。仿真和测试结果表明了设计的可行性。Ku/Ka频段天线仿真的相对带宽分别为2.2%和4.3%,实测结果分别为2.1%和3.4%。该结构的天线可应用于Ku/Ka频段的卫星通信中。     

紧凑型毫米波双极化阵列天线

设计了一种紧凑型毫米波双极化微带阵列天线.首先对双极化天线单元进行了优化设计,该天线单元采用共面微带线馈电和缝隙耦合馈电相结合的混合馈电方式,单元采用反相馈电技术,既提高了天线极化隔离,同时也简化了天线结构.其次,采用并联馈电方式进行天线阵列设计.最后,对该天线阵列进行了加工测试,结果表明该天线驻波比小于2.0,极化隔离大于35 dB,水平极化增益大于12 dB,垂直极化增益大于11.5 dB.     

介质覆盖的柱面共形微带天线的互耦分析

 共形微带天线间的互耦对微带天线阵的性能有重要影响,另一方面,为了防止对微带天线阵的自然的或人为的损害,需要在天线阵表面涂覆介质层或给其加上天线罩,因此在设计共形微带天线与阵列时也应当考虑覆盖层或天线罩的影响.利用严格的全波法分析和计算了介质覆盖、探针馈电的柱面共形微带天线单元间的互耦,给出了E面和H面互耦的数值结果,并讨论了柱面曲率半径和贴片间距对互耦的影响,给出了互耦随频率的变化关系,同时也研究了衬底介质和覆盖层对互耦的作用.     

电磁带隙结构测量的悬置微带线法研究

对用于测量电磁带隙（Electromagnetic Band Gap,EBG）结构带隙中心频率和带隙宽度的悬置微带线法进行仿真和实验研究。通过对不同高度和不同宽度的悬置微带线进行仿真,研究悬置微带线的高度和线宽对EBG带隙中心频率、带隙宽度测量值的影响。最后以蘑菇型EBG结构为例,进行了实物加工和测试验证。     

电介质测量中的谐振腔Q因子特性

对同轴线-集中电容负载谐振腔, 采用传输测量使用的3dB 三频法决定有载Q_l, 计及谐振频率下的插入损耗后获得无载Q_u, 对同一腔体, 也用单端口反射测量技术的xdB 三频法, 并通过测量回程损耗在谐振点和xdB 点的输入反射系数振幅来获得无载Q_u. 在500MHz 下40 个不同的耦合状况下, 两种方法得到无载Q_u的算术平均值和标准差为2519±34. 这两种技术被用来调节和实现传输型谐振腔的输入、输出的等耦合和电介质测量, 本文从介质损耗测量的观点讨论了如何使用有载Q_l和无载Q_u.      

不完整带隙结构在微带天线中的应用

为了使微带贴片天线满足导航和通信等应用设计的某些特殊要求,提出了一种可改善微带天线性能的不完整电磁带隙结构:首先在普通的切去两个对角的方形圆极化贴片天线周围一定距离处附加电磁带隙结构,使谐振频率增加而带宽变化不大;然后,在此基础上又将接地板外侧四边切去窄方形金属层,从而形成方形环介质层.仿真结果表明:新型结构可提高传统贴片天线的低仰角增益和总增益,同时可使传统微带天线较好地实现双频工作.      

利用0.5象点比长仪测量小型孔直线度误差

目前,对孔的轴线的直线度误差测量,通常采用下列方法:1.准直望远镜法。这种测量法精度高,准确可靠,但只适用于孔径大的深孔工件,一般,以准直望远镜的瞄准靶能放进孔内为宜。2.综合量规法。这种测量方法比较接近孔的实际使用情况,较直观,精度也较高。但是,对于测量高精度配合的孔,存在以下几个问题:①要精确地测出孔的实际尺寸,才能配制合适的综合量规。这是十分困难的。②检测中往往会产生划痕或小的沟槽,从而影响内孔的表面质量。本文介绍一种利用0.5象点比长仪测量小型孔的直线度误差的方法。它既可避免上述不足。又可在测量孔内径的同时,把孔的轴线直线度误差测量出来。     

改进的宽频带微带天线的设计方法

 微带天线的窄带特性是限制其广泛应用的重要原因之一,如何展宽微带天线的带宽一直受到研究人员的关注.本文提出一种简单、实用、满足工程实际需要的宽频带微带天线的设计方法,实测表明,利用本文提出的设计方法所设计的L波段双层微带贴片天线,其阻抗带宽达到25.7%,在工作范围内增益大于8dB.同时,本文提出的设计方法对于多层贴片微带天线也是适用的.     

多层膜光学常数的迭代椭偏测量研究

论述了多层薄膜光学的椭偏测量原理以及测量方法，采用导纳矩阵计算多层的椭偏参数；采用统计试验法与单纯形法相结合的数值逼近法进行反演计算。更重要的是本文首次提出迭椭偏测量法，使测量的重复性和精确度都大大提高。所谓选代椭偏测量法是不断地优选椭偏测量入射角，从而选出对核样品来说最佳椭偏测量入射角。用这种方法精确测量了相变光盘记录介质膜晶态下的光学常数，这对于相变光盘膜系结构优化设计很重要。     

介质材料电磁参数测量综述

扼要介绍了近２０年来介质材料电磁参数测试方法的概况、趋势及技术特点。这些方法包括传输／反射法、多状态法、多厚度法、谐振腔法、自由空间法等。     

精密时间间隔测量方法的改进

用于短时间间隔测量的量化时延法可显示较高的测量分辨力。然而 ,随着测量分辨力的提高 ,则需要更多的延迟组件和附加电路 ,这样不但设备的复杂度增加 ,而且还会产生附加误差 ,测量分辨力受到限制。提出一种改进方法 ,即在量化测量原理的基础上 ,利用细测与粗测相结合的方法来测量精密时间间隔。这种方法与CPLD相结合 ,可以在使用较少数量的延迟组件情况下 ,获得得 4 0 0ps的测量分辨力。     

在片S参数测量系统校准技术研究CSCD

在片S参数测量系统在半导体行业裸芯片测量中得到了广泛的应用,但是国内在片S参数测量系统无法有效溯源的现状影响了高端裸芯片产品的研发进度。为了建立该类系统的校准能力,本文研制了微带形式的在片校准件、在片传递标准件和在片检验件三类标准样片,搭建了高准确度的在片S参数传递标准件定标系统,通过HFSS仿真方法使得在片S参数溯源至几何量基准,最终建立了在片S参数测量系统中传输参数的计量校准能力,为最终完成在片S参数测量系统校准奠定了技术基础。     

用波导六端口反射计开口测量复介电常数

终端开口法测量复介电常数是非破坏性检测介质的一种方法。采用变分法分析了波导终端开口的幅射问题,导出了复反射系数与复介电常数之间的关系,并利用六端口反射计,在35GHz 频率点上对一些介质进行了测量,取得了满意结果。     

一种新型双层介质结构Butler矩阵研究

提出并实现一种基于双层微带结构的新型8×8 Butler矩阵。利用双层微波电路结构将器件分置于上下层以省略跨接器;采用两段近似λ_g/8阶梯耦合微带线Schiffman结构实现宽频带移相;采用三分支线定向耦合器作为宽带电桥。采用该方法设计并实现工作于C波段的8×8 Butler矩阵样品;实测结果表明,其可在(4.2~5.3)GHz范围内实现各端口回波损耗不大于10dB、端口隔离不小于17dB、功分比误差不超过±1.5dB、相位误差不大于±12°等指标,实测平均插入损耗约2.5dB。新型Butler矩阵较之采用跨接器的经典结构损耗小,更加适用于较大规模多波束成型网络。     

加速度计的静态校准

介绍了静态校准加速度计的方法 :地球重力法、负载法和离心机法。在用离心机法校准加速度计时 ,为了消除测量R的系统误差 ,可以采用径向R差值法。分析了这种方法的原理和误差。