相变光盘多层膜系结构的最佳光匹配研究

论述了相变光盘最佳膜系结构的设计。采用导纳矩阵法计算膜系的能量反射率，用量优化计算方法编程计算，提出了第二大极值解作为在工艺上可行的实用光盘的膜系结构，并按这种膜系结构制作样品，其擦写循环数达１００万次上。     

相变光盘信息记录过程的热模拟计算

基于多层模结构的瞬态热传导过程的有限差分解法,开发了用于模拟相变光盘静态信息记录过程的计算机程序HSS,并用它计算了相变光盘静态信息记录过程的温度场分布。     

电离层拟合方法及路径参数量化分析

针对多层电离层,采用反抛物层作为连接层来描述电离层之间区域的电子密度分布.以电子密度和其相对于高度的一阶偏导数连续为依据,拟合出连接层的临界频率、半厚度和底高等电离层参数.将电离层的准抛物模型和连接层的反抛物模型中计算出来的等离子频率代入Appleton-Hartree公式和Snell定理,结合射线的几何结构完成多层电离层中的射线追踪,同时计算群路径、相路径和传输距离这3种重要的路径参数.分析当给定频率时,路径参数与入射角之间的关系,群路径、相路径与传输距离之间的关系,频率对路径参数之间变化关系的影响;同时分析了给定入射角时,路径参数与射线工作频率之间关系和入射角对于路径参数之间变化关系的影响.     

数字通信信号漂移测量方法研究

在通信系统中,数字信号的传输漂移是衡量数据传输质量的一项重要指标,因此对数字信号漂移量的准确测量是非常重要的。介绍了数字通信信号漂移的定义、测量原理和目前国内外测量数字通信信号漂移指标的主要方法,示波器法和专用漂移测量仪表法适用于测量准确度要求不高的工程测量,而时间间隔测量法和频偏测量法适用于建立测量标准。最后简介了北京无线电计量测试研究所建立的数字通信信号漂移测量仪检定装置。     

氡活度的绝对测量方法

为了准确测量氡活度,国内外研发了多种氡活度测量方法。传统的测量方法如电离室测氡法与闪烁室测氡法等都是氡活度相对测量方法,具有不确定度较高,定值溯源依赖于镭标准物质的特点。本文介绍了近年来氡活度的绝对测量方法,包括冷凝小立体角绝对测量法、多电极正比计数管绝对测量法以及小闪烁室绝对测量法。通过对其原理和实验装置的调研和分析,比较归纳了各种绝对测量方法的特点。     

可擦除相变光盘原理及其材料

本文对可擦除相变光盘的工作原理及其材料的要求进行了详尽的论述。对可擦除光盘相变记录薄膜的最新动态作了评述。     

基于遗传进化算法反演吸波结构电磁参数

对多层吸波结构中未知参数层的电磁参数进行了反演.根据传输线理论确立的多层结构电磁参数与反射/透射系数的关系,建立正向反射率计算模型,根据自由空间法原理搭建的测试平台测量得到多层吸波材料不同入射角度下的反射率信息,利用改进的遗传进化算法获取了多层吸波结构中未知参数层的电磁参数.在遗传进化过程中,采用高斯随机数代替基本遗传算法的均匀随机数,避免了传统网络参数法厚度谐振、多值性问题和基本遗传算法易陷入局部最优点的问题.与传统传输/反射法结果的比较,验证了这种方法的可靠性.这种方法同时适用于计算高、低损耗介质材料的电磁参数.      

插值逼近结合FDTD法快速计算目标宽角度RCS

FDTD(Finite Difference Time Domain)法结合多项式插值逼近和样条函数插值逼近快速计算了三维目标的宽角度RCS(Radar Cross Section).引入插值逼近方法可以节省计算时间.在整个入射角度范围内选定若干个入射角,对不同的入射角,分别用FDTD法计算得到外推面上各点的切向电磁场值,进而得到这些场值随入射角度变化的插值函数,然后用插值函数计算出全入射角度范围内外推面上各点的切向电磁场值,最后通过近远场变换得到宽角度RCS.计算结果表明,在只有少数几个插值节点的情况下该方法就能很好地逼近FDTD法的精确计算结果,节省了计算时间.      

HS—400半自动周节检查仪的数据处理系统

ＨＳ—４００半自动周节检查仪数据处理系统是在其主机基础上研制成功的。该系统采用相对测量法，对齿轮周节参数进行测量，可直接计算出ΔＦ＿ｐ和Δｆ＿ｐ，并可打印输出测量结果和曲线。该系统的自动控制系统和安全保护系统采用了ＧＡＬ技术，使自动控制和安全保护更可靠。该系统研制成功后提高了原仪器的准确度和自动化程度。与德国的ＵＰ—６３０进行比对，其测量值之差小于２μｍ。     

薄膜热电偶热氧化可靠性及结构优化

航空发动机涡轮叶片处于发动机温度最高的部位，将薄膜材料制备于待测物表面形成热电偶传感器，可及时有效的对涡轮叶片进行测温。薄膜热电偶多层膜间的热氧化界面扩散失效是导致薄膜可靠性不高的主要原因之一，基于Fick第二定律提出多层膜扩散可靠性模型，定量描述薄膜热电偶扩散失效机理，通过仿真计算，结合粒子群算法，以薄膜寿命最大为目标，寻优得到各膜层对应的最佳结构，为结构工艺上提高薄膜热电偶寿命的研究提供了一定的借鉴。     

VO2热致变色薄膜的结构与光电性能研究

研究了用磁控溅射制备的ＶＯ２热致变色薄膜,用Ｘ射线衍射,Ｘ射线光电子谱和原子力显微镜对薄膜的结构进行了分析,对薄膜的光学和电学特性也进行了研究。     

透明导电氧化物薄膜的抗伽马辐照性能研究

利用射频磁控溅射法制备出具有良好光电性能的In₂O₃: W（IWO）薄膜,与购置的In₂O₃: Sn（ITO）薄膜一起,在伽马射线地面加速模拟试验设备中进行辐照试验。对辐照前后两种薄膜样品的微观结构、表面形貌、光电性能和元素价态进行对比分析,并用正电子湮没方法研究辐照前后的缺陷情况。结果表明,伽马射线辐照可引起ITO及IWO薄膜样品中氧空位缺陷的少量增加,且缺陷主要产生于薄膜表层及薄膜与基底界面结合处。高能伽马光子作用于透明导电氧化物薄膜,主要通过破坏其内部结合能较低的化学键,并实现薄膜系统中元素之间的选择性重组。ITO与IWO具有良好的抗伽马辐照性能,IWO相比ITO更适合于抗伽马辐照相关应用。     

硅基底上外延生长过渡金属硅化物薄膜的研究

过渡金属与硅的接触系统一直被人们所关注,是因为它们在界面处具有肖特基势垒的形成、过渡金属硅化物的外延生长、制作器件的稳定和耐高温等重要性.因此在硅基底上形成金属硅化物薄膜也被广泛应用于半导体工业.对硅衬底上蒸发的Cr、Fe、Mn薄膜进行热处理,通过固相反应法(SPR)制备过渡金属硅化物薄膜,即经过对过渡金属硅化物(薄膜)/Si系统进行各种温度、不同时间的热处理,制备出各种过渡金属硅化物薄膜.对于制成的各种硅化物薄膜,用X射线衍射法(XRD)和软X射线发射分光光谱法(SXES)对它们的组成成分进行了分析和确认.并且,由这两种分析方法表明:各种过渡金属硅化物薄膜在硅衬底上各形成了单一相的均匀层硅化物薄膜.     

Influence of optical parameters on a solar sail motion

Detailed dynamic modeling of a solar sail requires recording of solar radiation pressure influence. A photon-solar sail is determined by the thrust value and the direction. We define the solar sail’s reflectivity depending on the film materials, the sail design and temperature, the thickness of multiple layers, and degradation factor, with a reasonable degree of accuracy. Thus, this work is devoted to the identification of optical characteristics of thin multilayer films in space flight conditions, i.e. to finding its reflectance, absorbance, and transmittance. In particular, the paper asks whether the solar sail simulates by a mathematical model of the optical characteristics of a multilayer epitaxial thin film. The temperature change effect and optical properties of solar sail degradation are considered as well. Solar sail flight from Earth to Mercury is designed as a simulation of the flight change in optical parameters.     

光频测量的发展

光频标在准确度上比目前最高准确度的微波量子频标将高几个数量级 ,作为时频基准是很理想的 ,它的建立对我国乃至世界的科技发展有着重要的作用。光频测量是近几年国际科技领域的热点 ,实现对光频的测量对光频标的建立有着重要的意义 ,而测量方法是实现对光频测量的关键。综述光频的测量方法 ,主要介绍传统的测量方法和目前国际上采用的飞秒脉冲激光梳技术以及光频测量最新的发展动态     

直流磁控溅射ZnO:Al薄膜的光电和红外发射特性

以锌、铝合金(ω(Al)=3%)为靶材,利用直流反应磁控溅射法制备了系列掺铝氧化锌ZnO:Al(ZAO)薄膜样品,通过X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、分光光度计、霍耳效应及红外发射率测量仪等测试仪器或方法表征了样品的结构、形貌、光学、电学及红外发射特性.测得样品最低电阻率达到1.8×10^-6(Ω·m),最大禁带宽度为3.47?eV,可见光区平均透过率达到90%,8~14?μm波段平均红外发射率在0.26~0.9之间.上述特性均随衬底温度和溅射功率的变化有着规律的变化.当方块电阻小于45?Ω时,薄膜在8~14?μm波段平均红外发射率与方块电阻遵循二阶函数变化规律.     

太阳帆板平面度测量系统

介绍了一种采用斜光学三角形测量结构和基于虚拟精密测量基准的太阳帆板平面度无接触测量系统.首次提出斜光学三角形测量结构,使得测量系统的测量面积和分辨率大大提高,从而实现了对大面积平面平面度的高精度无接触测量.提出的虚拟精密基准的建模与误差补偿技术,解决了在非精密基准上实现精密测量这一难题,使得所研制的测量系统利用现有平台可实现对太阳帆板平面度的高精度测量.此外,对测量光斑位置估值精度与光斑图像尺寸大小和能量分布之间的定量关系进行了分析,为激光光斑的优化设计提供了理论依据.实际测量结果表明,该测量系统对面积为2581mm×1755mm太阳帆板的平面度测量精度达0.02mm(RMS).     

扫描辐射计内光路反射镜中SiO2／Ag薄膜系统的失效分析

SiO_2/Ag薄膜系统是扫描辐射计内光路反射镜的主要组成部分。采用高分辨扫描俄歇微探针(SAM)和扫描电镜分析对SiO_2/Ag 薄膜系统失效进行了较为全面的分析研究。通过扫描电镜观察发现,失效的反射镜表面SiO_2薄膜上存在大量析出物,借助于SAM分析,表明这些析出物主要是银和铜,析出物表面伴随有硫化和氧化。SAM的深度剖面结果说明,有析出物存在的区域,各薄膜层中存在原子间的扩散。文章就反射镜中Ag、Cu、和O的扩散和穿透行为进行了讨论,认为SiO_2薄膜致密度较差是导致反射镜失效的主要原因之一。     

数字光纤接收机输入光脉冲波形的函数逼近

数字光纤接收机的灵敏度计算与其输入光脉冲波形直接相关。本文从工程应用角度考虑,研究了数字光纤接收机输入光脉冲的函数逼近问题,导出了用高斯函数近似接收机实际输入光脉冲波形时,发送光脉冲的占空比、码速率和光纤带宽之间应满足的关系,并给出了高斯波形参数的取值范围。