| 夜间135.6 nm气辉反演的电离层f0F2与测高仪观测比较研究 |
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| 引用本文： | 薛仕翔,姜春华,马征征,徐彬,丁广兴,杨国斌,张援农,赵正予.夜间135.6 nm气辉反演的电离层f0F2与测高仪观测比较研究[J].空间科学学报,2023(3):456-465. |
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| 作者姓名： | 薛仕翔 姜春华 马征征 徐彬 丁广兴 杨国斌 张援农 赵正予 |
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| 作者单位： | 1. 武汉大学电子信息学院;2. 中国电波传播研究所电波环境特性及模化技术重点实验室;3. 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所;4. 哈尔滨工业大学(深圳) |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金项目（42104166）共同资助； |
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| 摘 要： | 在夜间电离层，气辉135.6 nm谱线主要由F层的O+和电子的辐射复合过程以及O+和O–的中性复合过程激发，该谱线强度和电离层峰值电子密度Nm F2存在很强的相关性。利用夜气辉135.6 nm辐射强度与F2层峰值电子密度Nm F2的平方成正比的物理模型，建立了在不同经纬度、地方时、季节和太阳活动下均适用的反演算法。通过DMSP卫星上搭载的紫外光谱成像仪(SSUSI)实际观测的135.6 nm气辉辐射强度来反演相应时空的电离层F2层临界频率f0F2，并将其与地基测高仪探测结果做了综合对比。结果表明，在太阳活动高年(2013年)，相对误差小于等于20%的数据占比93.0%，平均相对误差约为7.08%；在太阳活动低年(2017年)，相对误差小于等于20%的数据占比80.8%，平均相对误差约为12.64%。最后，对该算法在太阳活动高低年的反演精度差异进行了分析。
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| 关 键 词： | OI 135.6 nm 反演方法 f0F2 电离层 测高仪 |
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