| 全内反射测速技术（TIRV）中界面隐失波基准光强I0的确定 |
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| 引用本文： | 史飞,郑旭,陈荣前,李战华.全内反射测速技术（TIRV）中界面隐失波基准光强I0的确定[J].实验流体力学,2014(6). |
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| 作者姓名： | 史飞 郑旭 陈荣前 李战华 |
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| 作者单位： | 1. 中国计量学院 计量测试工程学院,杭州,310018
2. 中国科学院 力学研究所,北京,100190 |
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| 摘 要： | 基于隐失波全内反射的测速技术TIRV （Total internal reflection velocimetry）是微纳流动中测量壁面附近几百纳米范围内速度的有效方法。隐失波的光强分布I （z）随离开壁面的高度z指数衰减。若荧光粒子位于光强分布中，其亮度也将符合此指数关系，通过测量粒子亮度可确定粒子的垂向位置z，而确定隐失波的基准光强I0是该技术的关键之一。基于粒子近壁Boltzmann浓度分布、粒子粒径不均匀性和隐失波光强公式，给出了粒子亮度概率密度分布的数值解。实验测量粒子统计亮度分布后，依据实验和理论分布相同原则可定量确定基准光强I0。采用φ100nm和φ250nm 荧光粒子验证此方法并定量分析了粒径分散性对确定 I0的影响。进一步采用φ100nm粒子进行近壁速度测量实验，结果验证了本方法的有效性。
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| 关 键 词： | 全内反射测速技术(TIRV) 隐失波 基准光强 纳米粒子 亮度分布 |
Determination of the interfacial evanescent wave base intensity I0 in total internal reflection velocimetry (TIRV) |
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| Shi Fei,Zheng Xu,Chen Rongqian,Li Zhanhua.Determination of the interfacial evanescent wave base intensity I0 in total internal reflection velocimetry (TIRV)[J].Experiments and Measur in Fluid Mechanics,2014(6). |
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| Authors: | Shi Fei Zheng Xu Chen Rongqian Li Zhanhua |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | TIRV evanescent wave base intensity nanotracer intensity distribution |
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